Инфракрасная спектроскопия Инфракра́сная спектроскопи́я
Метод диффузного отражения
жүктеу/скачать 5,17 Mb.
|
251370.pptx
| Метод диффузного отражения
Методики диффузного отражения нашли применение в УФ- спектроскопии. Вид спектроскопии еще в 50-х годах ХХ века (рис. 1). И только через 20-30 лет они, получившие название ИКС-ДО (DRIFT), начали использоваться при регистрации ИК спектров. Это было обусловлено низкой чувствительностью обычных двухлучевых спектрометров, поскольку их оптические схемы не позволяют весь отраженный свет (или значительную его долю) направить на детектор. Упрощение оптической схемы при переходе к ИК-Фурье спектрометрам в настоящее время позволило метод диффузного отражения (ИКСДО) сделать рутинным методом. Схема работы приставки диффузного отражения показана на рис. 2. Методика диффузного отражения позволяет измерять спектры порошков и пленок нанесенных на отражающие плоскости. Однако эта методика не является количественной вследствие неопределенности глубины проникновения излучения в образец, теоретически эта методика должна использоваться для бесконечного слоя исследуемого образца, что на практике сводится к толщине до 2 мм, хотя для сильно поглощающих веществ глубина анализа существенно снижается. Кроме этого, надо иметь ввиду, что для крупнокристаллических образцов, в области сильного поглощения (в области собственных колебаний кристалла) в измеренный спектр существенный вклад дает зеркальное отражение от поверхности кристаллов. Это приводит к существенному искажению спектров. Особенностью метода диффузного отражения является повышенная чувствительность к слабым полосам поглощения. Это, на качественном уровне, можно объяснить тем, что в случае слабого поглощения (мало-интенсивные линии) свет отражается от бóльшего объема образца, чем для интенсивных полос поглощения. жүктеу/скачать 5,17 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|