𝛼= [𝛼0]𝑐𝑙формуласыменанықталады: оптикалық белсенді заттың бұрылубұрышы Егер поляризатор мен анализаторлардың бас оптикалық жазықтықтары өзара перпендикуляр болса, онда олардан өткен жарыққарқындылығы:
2. 0 E және H векторлары нақты бір жазықтықта жататын болса,электромагниттіктолқындар:
поляризацияланғанжарық
Поляризатор және анализатор жазықтықтарының арасындағы бұрыш анализатордан өткен жарықтың қарқындылығы үлкен болуүшін:
1. 00 Толық шағылудың шекті бұрышыныңформуласы:
3. sin 𝑖шек =𝑛2/𝑛1 280. Кезкелгензаттанөткендегіжарыққарқындылығыныңкемуі,жәнесоның есебінен жарық энергиясының энергияның басқа түрінеайналуы: жарықтыңжұтылуы
281. Медицинада рефрактометрдіңқолданылуы: биологиялық сұйықтардың сыну көрсеткішін және оның концентрациясын анықтауүшін
282. Интерференциялық рефрактометранықтайды: оптикалық ортаның сыну көрсеткішінөлшеу
283. Заттарды зерттеудің поляриметрлік әдісінің негізі –ол: оптикалық белсенді заттармен табиғи жарықтың поляризация дәрежесін өлшеу
284. Жоғарыдәлдікпентолқынұзындығын,үлкенемесқашықтықтарды,заттың сыну көрсеткішіін және оптикалық беттердің сапасын анықтау үшін қолданылатынқұрал: интерферометр Брюстер заңы:
3. 𝑡𝑔𝑖Б =𝑛 Оптикалық белсенді зат ерітіндісі поляризация жазықтығының бұрылу бұрышы:
289. Мөлдір емес орталар шекарасынан жарық толқындарын орағытып кеңістікте энергия тасымалдау – бұл жарықтың: дифракциясы 290. Кейбір көруге мүмкін болатын ішкі ағзалардың қабырғасынбақылау поляриметр құралы арқылы жүзегеасады рефрактометр туралы арқылы жүзеге асады
292. Сфералық жарық толқындарының оптикалық жүйеден өтуі кезіндегі деформацияға ұшырап, сфералық болмай қалуына әсер ететін оптикалық жүйенің кемшілігі:
астигматизм
сфералықабберация
хроматикалықабберация
дисторсия
фокустеу
293. Микропроекция:
объектіні бүйір жағынан жарықтандыруға негізделген микроскопияның әдісі
экранда микроскопиялық кескін алуға негізделген
фотопленкада (фотопластинада) микроскопиялық кескін алуға негізделген
микроскопкөмегіменмикроскопиялық объектілердің өлшемін өлшеу үшінқолданылады
экранда микроскопиялық объектілердің кескіннің проекциясының өлшемін өлшеу үшінқолданылады
294. Оптикалық микроскоптағы конденсор қолданылады:
объектіге түсетін жарық арқылы кескінді ұлғайтуүшін
ажырату шегін жақсартуүшін
объектіге түсетін жарықтың қарқындылығын жақсартуүшін
түскен жарыққабайланыстысфералық аберрацияны реттеу үшін
оптикалық бұзылуды реттеуүшін
295. Микроскоптың ажырату шегі: 1. нәрсенің микроскопта екі нүкте болып көрінетін ең жақын екі нүктесінІң ара қашықтығына кері шама 296. Микроскопта иммерсиялық сұйықтық: 5. ажырату қабілетін азайту үшін керек 297. Бұрыштық апертура: 3. объективтен нәрсенің көрінетін жарық ағыны шеткі сәулелерінің арасындағы бұрыштың жартысына тең бұрыш 298. Микроскоптың үлкейтуінің тұжырымдамасы: 2. тубустың оптикалық ұзындығының жақсы көру арақашықтығына көбейтіндісінің объектив пен окулярдың фокустық арақашықтықтардың көбейтіндісіне қатынасына тең
299. Поляризация жазықтығының айналуы поляризацияланған жарықтың қандай да бір заттан өткен кездегі жазықтығының бұзылуынан болады. Мұндай қасиетке ие заттар: 1. оптикалық белсенді 300. Ішкі толық шағылу құбылысының қолданылуы: 1. жарық тасымалдаған талшықтарда 301. Жиілігі тең және фазалар ығысуының өзгермеу жағдайы толқындық үрдісте орындалуы: 3. когеренттілігі 302. Лазер 3. оптикалық квантты генератор 303. Лазерлік сәуле шығарудың негізгі қасиеттері 1. монохроматты, когерентті 304. Температураны өлшейтін құрал: 4. пирометр 305. Жарықтың кванттық қасиетін сипаттайтын құбылыс: 5. фотоэффект 306. Жарық дифракциясы мен интерференциясы негізінде нәрсенің кескінін