Курс: 2 Қабылдаған: Сейтбекова Г. А
Атом эмиссиялық спектрлердегі кедергі
жүктеу/скачать 120,91 Kb.
|
RashidAlmas
Газеттен тоқу техникасы., Газеттен тоқу техникасы., Гүлшехра
Атом эмиссиялық спектрлердегі кедергіолар екі негізгі категорияға бөлінеді: спектрлік қабаттасулар және матрицалық эффектілер. Ең көп зерттелген топ-спектрлік қабаттасу, яғни эмиссиялық спектрлердегі сызықтардың өзара қабаттасуы. Спектрлік қабаттасудың үш түрін ажыратуға болады: 1.қызықтыратын және кедергі келтіретін спектрлік сызықтардың толқын ұзындығының толық сәйкес келуі (6А-сурет); а-толық сәйкестік 2.мүдделік эмиссиялық сызықты тікелей жақын орналасқан кедергі келтіретін сызықпен ішінара жабу (6Б-сурет); б-ішінара қабаттасу; 3. фон деңгейінің жергілікті көтерілуі немесе төмендеуі (6В сурет). в-фон деңгейінің әсері (1) және (2) типтері қызығушылық элементінің сызығының басқа элементтің, тасымалдаушы газдың (аргон немесе гелий) немесе тасымалдаушы газдағы қоспалардың (N2 молекулалары, OH радикалдары және т.б.) сызықтарымен кедергісінен туындайды. Әр түрлі элементтердің сәйкес сызықтарын іздеу ,яғни мәселені шешу (1) көптеген жұмыстарға арналған. Мысалы, белгілі сәйкес келетін Cd (228,802 нм) және As (228,812 нм); Zn (213,856 нм) және Ni (213,858 нм) сызықтары. Қабаттасудың бұл түрі көбінесе талдау үшін осы элементтердің араласпайтын басқа сызықтарын таңдау арқылы шешіледі. (2) типті кедергіні жою құрылғының ажыратымдылығын арттыру арқылы мүмкін болады. Бұл әрдайым мүмкін емес болғандықтан, көптеген жағдайларда түзету түзетулерін жасауға мүмкіндік беретін арнайы математикалық модельдер жасалды. Егер мұндай модельдерді қолдану мүмкін болмаса, басқа аналитикалық желілерді таңдау жалғыз шешім болып қала береді. (3) типті қабаттасуды есепке алу үшін, әдетте, фонды қызықтыратын спектральды сызықтың екі жағынан өлшеу және интерполяция арқылы есепке түзету түзетулерін енгізу жеткілікті. Бұл әдіс фонның жұқа құрылымы болмаған жағдайда қанағаттанарлық нәтиже береді. Интерференцияның тағы бір себебі – матрицалық әсерлер – әдетте сынаманы плазмаға енгізу процесіне байланысты (матрица-бұл зерттелетін ерітіндінің құрамына кіретін заттардың жиынтығы, оның ішінде еріткіштің өзі, бірақ талданатын затты қоспағанда). Мысалы, кейбір жағдайларда стандартты және талданатын ерітінділердің матрицалары арасындағы айырмашылықтар соншалықты үлкен, олар үлгіні құрылғыға енгізу тиімділігіне әсер ете бастайды. Алынған спектрдегі мұндай айырмашылықтар кедергі түрінде көрінеді, өйткені әртүрлі ерітінділердегі талданатын заттың бірдей концентрациясы аналитикалық сигналдың әртүрлі қарқындылығын береді. Матрицалық интерференцияның ерекше күрделі жағдайларын жою үшін арнайы әдістерді қолдануға болады. Түзетудің ең көп таралған әдістерінің бірі – ішкі стандартты қолдану. Ішкі стандарт-бұл барлық ерітінділерде бірдей концентрацияда болатын элемент: стандартты, бос және талданатын. Бұл элемент бастапқыда ерітінділердің әрқайсысының матрицаларында болатын немесе үлгіні дайындау сатысында арнайы қосылған элементтердің бірі бола алады. Соңғы жағдайда ішкі стандарт ретінде әрекет ететін элемент анықтау шегінен асатын концентрациядағы ерітінділердің ешқайсысында болмауы керек. Содан кейін ішкі стандарттың эмиссиялық сигналы ерітінділерді құрылғыға енгізу тиімділігін математикалық түзету үшін қолданылады. Қолданылуы Атомдық эмиссиялық талдау кестеде көрсетілген 20 металды анықтау үшін ғана қолданылып қана қоймай. Оның көмегімен ауада және басқа ортада кем дегенде 70 металдар мен периодтық жүйенің элементтерін анықтауға болады. Алайда, мұндай әдістер негізінен ауадағы металдарды анықтау үшін қолданылады (сүзгіні күйдіргеннен кейін сынама ұнтақ электр доғасының графит электродтарының кратерлеріне орналастырылады), ал судағы және топырақтағы металдарды анықтау үшін (бұл жағдайда металл тұздарының ерітінділері талданады) классикалық спектрлік талдау онша қолайлы емес. Соңғы жағдайда эмиссиялық плазмалық спектроскопия немесе атомдық-абсорбциялық спектроскопия әдістері жиі қолданылады. Эмиссиялық спектроскопияны қолдану: Зертханалық қатты рентген монохроматоры рентгендік эмиссиялық спектроскопияны қолданатын жоғары ажыратымдылықтағы қосымшалар үшін қолданылады. Стандартты қосымша сонымен қатар рентген сәулелерінің сіңуін қолдана отырып, атомдар негізгі сатыға бөлінген кезде жиектерге жақын құрылымды өлшеу болып табылады. Шығарылған сәуле, әдетте, белгілі бір талдау үшін белгілі бір толқын ұзындығын оқшаулау үшін қолданылатын монохроматор арқылы өтеді. AES немесе атом эмиссиясының спектроскопиясындағы эмиссиялық спектроскопия, әдетте, концентрацияны және олардың эмиссиялық спектрлерін бағалау үшін қозған атомдардан бастап эмиссияның сандық оптикалық өлшемдерін қолданады. Өтпелі металдардың электронды және геометриялық құрылымына қатысты қосымша ерекшеліктерді де зерттеп, талдауға болады. Радиациялық спектр мен сызықты емес рентгендік спектроскопияға негізделген спектроскопиялық өлшеулер бейорганикалық химиядағы металл қосылыстары, Катализ сипаттамалары және материалтану саласындағы қосымшалар сияқты әртүрлі өтулерді талдау үшін қолданылады. жүктеу/скачать 120,91 Kb. Достарыңызбен бөлісу:
|