113
коэффициент отражения, максимум которого достигается при длине волны 13.4
нм. 8-зеркальный промышленный ЭУФ-литограф сможет обеспечить апертуру
0, 4
и разрешение
20
нм
.
4.Образец с нанесенным резистом 5 на рис. 2.11. Здесь необходимы
специальные резисты с высоким контрастом и чувствительностью. Например,
кремний - водородные (силановые) полимеры, неорганические резист селенид
мышьяка (
AsSe
).
Рентгенолитография
позволяет достигать разрешения до 15 нм при
использовании источника излучения с длиной волны 1 нм.
Электронно-лучевая литография
для построения рисунка использует пучок
электронов. Это медленный последовательный процесс в отличии
фотолитографии, в которой рисунок наносится сразу на всю поверхность.
Достарыңызбен бөлісу: