Материалов
жүктеу/скачать 2,72 Mb. Pdf көрінісі
|
физико-химические методы исследования строительных материалов (3)
раздела фаз в общем теле материала, выделяющихся более интенсивной красновато-бурой окраской и образующих упорядоченный каркас. Рис. 4.3. Микрофотографии структуры керамического черепка из отходов обогащения углистых аргиллитов. Шлиф, проходящий свет: увеличение 100х: 1- оплавленные частицы кварца; 2 – полевой шпат; 3 – железистые соединения; 4 – поры; 5 – сложный пироксен; 6 – авгит. Выявлено, что в фазовом составе обожженного черепка присутствуют частицы кварца, полевой шпат, пироксены, авгит и стеклофаза. Поры круглые, длинные щелевые. Некоторые поры сообщающиеся между собой. На границе гранул присутствует стеклофаза, которая заполняет межзерновые пустоты и цементирует отдельные твердые зерна, что повышает прочность керамического материала. Таким образом, оптическая микроскопия позволяет исследовать макроструктуру твердых строительных материалов. 84 4.2. Электронная микроскопия Современные электронные микроскопы имеют увеличение до 500 000 раз, что позволяет видеть частицы размером до 10 -10 м. Такое глубокое проникновение возможно в результате использования электронных лучей, волны которых во много раз короче волн видимого света. Электронные микроскопы бывают просвечивающие, растровые, сканирующие, отражательные, эмиссионные. Они отличаются друг от друга источниками свободных электронов, характером взаимодействия электронного пучка с веществом, методами регистрации дифрагированных электронов. На рис. 4.4 приведен электронный микроскоп фирмы. Рис .4.4. Электронный сканирующий микроскоп Электронный микроскоп позволяет определить структуру исследуемого материала, форму, размер частиц и пор, расположение кристаллических и аморфных составляющих, характер расположения кристаллов и др. Оптическая схема электронного микроскопа близка к схеме обычного светового. Катод, представляющий собой вольфрамовую проволоку, при накаливании испускает электроны. В результате разности потенциалов между катодом и анодом, равной нескольким десяткам киловольт, электроны со значительной скоростью движутся к аноду и проходят через отверстие в магнитную линзу. Линза фокусирует пучок 85 электронов в плоскости объекта. Электроны, прошедшие сквозь объект, попадают во вторую магнитную линзу, которая создает в плоскости увеличенное изображение объекта. Чтобы сделать это электронное изображение видимым, в данной плоскости устанавливают флюоресцирующий экран. Получаемое видимое изображение объекта называют промежуточным. жүктеу/скачать 2,72 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|