Рентген сәулесінің дифракциясы



бет3/3
Дата27.12.2023
өлшемі427,11 Kb.
#199735
1   2   3
Байланысты:
JEMUFELORVVA04122023091055
5-апта Оразбек Кумисай әртүрліалмастыру арқылы шешілетін трьгонометриялық теңдеулер, 7-апта Хаттама, SQATJKMWRECI09122023205411, Электронды микроскопия рыл ысы емтихан с ра тары, treatise34952 (7), VWYCLCTCPUKT30112023172620, VWYCLCTCPUKT30112023172620, ulfmd06008 tm Filipe Pacheco
10-сурет. а) рентген түтігіндегі эмиссия тоғының ІТ катодқа берілген токтың ІН әсеріне және вольфрам қысымының температурасына тәуелділігі. б) катодты қоздыратын тоқтың шамасы өзгергендегі рентген түтігінің қанығу (Іқ) тоғының тәуелділігі.

Рентген құрылымдық сараптамада қолданылатын рентген түтіктерінде, анодтық кернеудің орынына, анод айнасы жасалған матриал көрсетіледі. Ондай материал ретінде Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Mo, Ag, W және кейбір таза металдар қолданылады.
Мысалы, рентген түтігінде мынадай белгілеу болсын: 0,7 БСВ -2-Со. Осы белгіні былай түсіну керек: қуатты 0,7 кВт, қауыпсыз, құрылымдық сараптама жасауда, сумен салқындайтын 2-типті, кобальт анодты рентген түтігі.
0,4 БМП -2-120 деген белгісі бар рентген түтігі мынадай: қуаты 0,4 кВт, қауыпсыз, заттардың құрылысын анықтауда – дефектоскопияда, майлы салқындатқышты, 2- типті, анодтың кернеуі 120 кВт рентген түтігі.

Достарыңызбен бөлісу:
1   2   3




©engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет