Учебная программа дисциплин по специальности 5В060500 «ядерная физика»


Микроэлектроника и интегральные микросхемы



Pdf көрінісі
бет340/457
Дата08.12.2023
өлшемі3,52 Mb.
#195784
түріУчебная программа
1   ...   336   337   338   339   340   341   342   343   ...   457
Байланысты:
5В060500- Ядерная физика

 
Микроэлектроника и интегральные микросхемы 
Технологические основы микроэлектроники. Степень интеграции 
элементов и компонентов в микросхеме. Современные тенденции развития 
электроники. 
ПРИМЕРНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ ТЕМ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ 
1.
Основные радиоэлектронные измерения и измерительные приборы. 


2.
Пассивный 
четырехполюсник. 
Прохождение 
через 
дифференцирующие и интегрирующие цепи гармонических и импульсных 
сигналов. Взаимосвязь между временными и частотными характеристиками 
цепей. Компенсированный делитель напряжения. 
3.
Исследование биполярного транзистора в статическом режиме. 
4.
Резонансный 
контур. 
Исследование 
последовательного 
и 
параллельного контура. 
5.
Исследование генераторов гармонических сигналов (RC и LC). 
6.
Исследование мультивибратора. 
7.
Исследование генератора пилообразного напряжения. 
8.
Исследование резистивно–емкостного каскада усиления. 
9.
Исследование эмиттерного и истокового повторителей. 
10.
Дифференциальный каскад усиления. 
ПРИМЕРНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ ТЕМ СЕМИНАРСКИХ ЗАНЯТИЙ 
1.
Метод комплексных изображений. Частотные, амплитудно-
частотные (АЧХ), фазо-частотные (ФЧХ) характеристики RC, RL цепей.
2.
Определение резонансной частоты, добротности контура, полосу 
пропускания, амплитуду тока, протекающего в неразветвленной части цепи, 
напряжение на контуре при резонансе.
3.
Определение операционным методом форму импульса на выходе 
четырехполюсника.
4.
Компьютерное моделирование биполярного транзистора.
5.
Расчет стабилизированного источника питания.
6.
Расчет АЧХ, ФЧХ, полосы пропускания и добротности 
усилительных каскадов.


Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   336   337   338   339   340   341   342   343   ...   457




©engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет