Лекции по наноматериалам и нанотехнологиям
жүктеу/скачать 12,63 Mb. Pdf көрінісі
|
Nanomateriali i nanotehnologii bak
- Бұл бет үшін навигация:
- 2.10.3. Электронная спектроскопия
|
рис. 2.29 показан время пролетный масс-спектр сажи, полученной лазерным испарением мишени, состоящей из лантана и углерода, для различных стадий её очищения. Цель - выделение эндоэдрического фуллерена 82 LaC . Рис. 2.29. Время пролетный масс-спектр сажи. а) первоначальный экстрат сажи., б) фракции выделенные на хроматографической колонке, в) вторая фракция полученная с целью выделения эндоэдрического фуллерена 82 LaC .[1] 2.10.3. Электронная спектроскопия Все методы спектроскопии (оптической, ультрафиолетовой, инфракрасной, рентгеновской, электронной и др.) основаны на спектральных измерениях величин пропускания, поглощения, отражения и испускания. Электронная микроскопия - важный метод анализа пространственных элементов наноструктур. Он позволяет получать прямые изображения образца, из которых извлекается информация о морфологии образца. Основной является просвечивающая электронная микроскопия . Для получения кристаллографической информации о приповерхностных слоях материала используется методика дифракции низкоэнергетических ( 10 100 E эВ ) с 131 длиной волны де Бройля 1, 226 h p E . Электрон с энергией 25,2 эв имеет 0, 2442 нм при постоянной решетки арсенида галлия 0,565 нм. В просвечивающем электронном микроскопе электроны из электронной пушки падают на образец, рассеиваются после прохождения, фокусируются объективной линзой, проходят через увеличительную проекторную линзу и дают изображение на экране. Лучшие результаты электронная микроскопия дает для пленок с толщиной сравнимой с длиной свободного пробега электрона в пленке. См. Рис. 2.30. Рис. 2.30. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Изображение на светлом поле (СП) на детекторе получается, если апертура пропускает основной не отклоненный пучок.[1] жүктеу/скачать 12,63 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|