1. Кіріспе Пәннің мақсаты мен мазмұны Кристалдардың құрылымы


Метод порошка или Дебая-Шерера



бет23/28
Дата29.10.2022
өлшемі1,81 Mb.
#155582
түріҚұрамы
1   ...   20   21   22   23   24   25   26   27   28
Байланысты:
357434-1

Метод порошка или Дебая-Шерера.
Для получения рентгенограмм порошков с использованием фотографического метода регистрации дифракционной картины используют рентгеновские камеры типа РКД-57 или РКУ-114 (рис.2.35).

Рис. 2.35 Рентгеновская камера Дебая:


1 – цилиндрический корпус,
2 – подставка, 3 – установочные винты, 4 – крышка камеры, 5 – коллиматор, 6 – щелевая диафрагма, 7 – диск вращающегося стола, 8 – тубус-ловушка.

При этом минимум геометрических искажений дифракционной картины будет при малом образце, то есть разрешение на рентгенограмме тем выше и точность определения угла  тем больше, чем тоньше образец-столбик и параллельный первичный пучок. Но при этом уменьшается светосила дебаевской камеры и соответственно возрастает экспозиция.


Если в малом объеме образца находится большое число мелких монокристаллов (<10-2 мм), произвольно ориентированных в пространстве, то при облучении его характеристическим излучением возникает дифракционная картина, характер которой можно представить, используя построение обратной решетки и сферы распространения Эвальда.
Пересечение дифракционных конусов с плоской фотопленкой, расположенной перпендикулярно первичному пучку, дает дифракционную картину отраженных рентгеновских лучей в виде концентрических окружностей. Если фотопленку расположить по цилиндрической поверхности, ось которой перпендикулярна к направлению первичного пучка, регистрируется дифракционная картина в виде кривых четвертого порядка – пересечения конусов с цилиндром. (рис. 2.37)


Рис.2.37 Схема получения рентгенограмм поликристалла на плоской (а)и цилиндрической (б) пленке. 1 – источник рентгеновского излучения; 2 – щели (коллиматор); 3 – образец; 4 – фотопленка; 5 – тубус-ловушка


Интенсивность дифракционной картины в направлении образующей конуса будет постоянна, если в рассеивающем объеме (образце) находится достаточное количество кристаллитов при равновероятной их ориентации в пространстве. Кристаллики должны быть как можно мельче, не более 10-2 мм, иначе набор ориентаций будет недостаточным, сфера радиусом Нi будет заполнена не сплошь узлами обратной решетки и дебаевская линия распадется на отдельные точки.
Такие оптимальные условия съемки получают, набивая коллодиевый цилиндрический мешочек диаметром 0,10,3 мм примерно равноосными по форме кристаллитами размерами 10-310-5 мм, а облучаемый рентгеновским пучком объем составляет приблизительно 0,12,0 мм3.
При изготовлении образца требуется тщательность и аккуратность, чтобы исключить загрязнения образца и, как следствие, появления искажения на дифракционной картине.
Чтобы увеличить набор ориентаций кристалликов, формирующих линию на рентгенограмме, и сделать линию непрерывной, образец при съемке вращают вокруг своей оси.
Наличие некоторой преимущественной ориентации кристаллитов окажет влияние на распределение интенсивности дифракционных максимумов, то есть будет нести информацию о текстуре.
Метод расходящегося пучка. С целью увеличения светосилы камеры при съемке дифракционной картины фотометодом используют камеры с различными схемами фокусировки: по Зееману-Болину, Престону, Гинье и т.д.
Съемку дифракционной картины всегда проводят фокусирующими методами, когда используется расходящийся первичный (падающий на большую поверхность образца) и регистрируется сходящийся в линию отраженный (дифрагированный под углом дифракции 2) рентгеновские лучи.

Рис. 2.38 схема хода лучей при съемке поликристаллов в камерах КРОС (а), РКЭ (б): F – фокус рентгеновской трубки; О – образец; Пл – пленка. Фокусировка дифракционных линий достигается изменением расстояния А (КРОС) или угла наклона образца  (РКЭ)


Схемы фокусировок рентгеновских лучей приведены на рис.2.38. Существует несколько схем фокусировок. При использовании одних схем фокусировка происходит в узком интервале углов дифракции, то есть фиксируется 12 линии, поэтому для регистрации разных дифракционных максимумов меняют положение образца или регистрирующего прибора (параметр съемки). На этом принципе основаны камеры КРОС, РКЭ, дифрактометры с фокусировкой по Брэггу-Брентано и т.п.




Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   20   21   22   23   24   25   26   27   28




©engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет