1. Кіріспе Пәннің мақсаты мен мазмұны Кристалдардың құрылымы


Кәдімгі жоғары ажыратымдылықтағы электронды микроскопияға арналған қосалқы жабдық



бет9/28
Дата29.10.2022
өлшемі1,81 Mb.
#155582
түріҚұрамы
1   ...   5   6   7   8   9   10   11   12   ...   28
Байланысты:
357434-1

Кәдімгі жоғары ажыратымдылықтағы электронды микроскопияға арналған қосалқы жабдық



  1. Микроскоптың өзінен басқа, осы кітапта бұрын айтылған микроскопты толықтыратын әртүрлі көмекші құрылғылар бар. Жиынтықта олардың барлығы осы параграфта қамтылады.

  2. 1. Масс-спектрометр немесе ішінара қысым манометрі электронды микроскопқа өте пайдалы қосымша болып табылады. Масс-спектрометр микроскоптағы ластану өнімдеріне толық талдау жасайды. Кейбір құрылғылардың конструкцияларында магниттер бар, мұндай құрылғыны электронды микроскопиялық кескінге ықтимал әсерін ескере отырып орналастыру керек.

  3. 2. Жоғары ажыратымдылықпен жұмыс жасай отырып, балонды құрғатылған азотты пайдалану пайдалы. Микроскоп бағанға енетін су буының мөлшерін азайту үшін ішкі жөндеу қажет болған кезде құрғақ азотпен толтырылады.

  4. 3. Объективті линзаның фокусының өзгеретін ұзындығы жағдайында құрылғыны үлкейтуді калибрлеу үшін объективті линзаның тогын өлшеу үшін құрылғыны қолдану пайдалы.

  5. 4. Ұзақ экспозициялары бар қараңғы суреттерді суретке түсіру кезінде жылу тұрақтылығын қамтамасыз етудің маңыздылығына байланысты сұйық азотты айдауға арналған сорғы болған жөн.

  6. 5. Микроскоптың зеңбірегінің камерасын тазалағаннан кейін қалған шаңды немесе құралдардың іздерін алу үшін саптамасы бар резеңке алмұрттың болуы әрқашан пайдалы.

Мөлдір электронды микроскопты қолдану

Мөлдір электронды микроскопия (ПЭМ) қолданылмаса да, биология және материалтану саласындағы зерттеулердің кез-келген саласы қалды; бұл үлгіні дайындау техникасының жетістіктерімен қамтамасыз етілген.


Электрондық микроскопияда қолданылатын барлық әдістер өте жұқа үлгіні алуға және тірек ретінде қажет субстрат пен оның арасындағы максималды контрастты қамтамасыз етуге бағытталған. Негізгі әдіс қалыңдығы 2 – 200 нм үлгілерге арналған, олар жұқа пластиктен немесе көміртекті пленкалардан тұрады, олар ұяшықтың өлшемі шамамен 0,05 мм торға орналастырылады. (Тиісті үлгі, қандай жолмен алынса да, Зерттелетін объектідегі электрондардың шашырау қарқындылығын арттыру үшін өңделеді.) Егер контраст жеткілікті үлкен болса, онда бақылаушының көзі бір – бірінен 0,1-0,2 мм қашықтықта орналасқан бөлшектерді кернеусіз ажырата алады. Сондықтан, электронды микроскоп жасаған суретте 1 нм қашықтықта үлгіде бөлінген бөлшектерді ажырату үшін шамамен 100 – 200 мыңды толық ұлғайту қажет. Микроскоптардың ең жақсылары фотопластинкада осындай үлкейтуі бар үлгіні жасай алады, бірақ сонымен бірге тым кішкентай аймақ бейнеленген. Әдетте микросхеманы аз үлкейтіп жасаңыз, содан кейін оны фотографиялық түрде көбейтіңіз. Фотопластинка ұзындығы 10 см-ге жуық 10 000 сызыққа рұқсат береді. Егер әрбір сызық үлгінің ұзындығы 0,5 нм белгілі бір құрылымға сәйкес келсе, онда мұндай құрылымды тіркеу үшін кемінде 20 000 ұлғайту қажет, ал ӨЭМ көмегімен шамамен 1000 жолға рұқсат етілуі мүмкін.


Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   5   6   7   8   9   10   11   12   ...   28




©engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет