1. Кіріспе Пәннің мақсаты мен мазмұны Кристалдардың құрылымы
жүктеу/скачать 1,81 Mb.
|
357434-1
- Бұл бет үшін навигация:
- JEOL JEМ – 2100 LaB6 200 кВ аналитикалық трансмиссиялық электронды микроскоп
| JEOL JEМ – 2100F
200 кВ просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией Жоғарыжарықтығыменүйлесімділігібарэлектрондысәуленіқамтамасызететінөрісэмиссиясыбарэлектрондызеңбірекжоғарыажыратымдылықтажәненаноқұрылымдардыталдаудамаңыздырөлатқарады. JEM – 2100f аспабытүрліфункциялармендамығанэлектрондықбасқаружүйесіменжабдықталғанкешендіӨЭМболыптабылады. Бұл құрылғының негізгі ерекшеліктері: • Жоғары жарықтығын және тұрақтылық электрондық зеңбіректер с термополевой эмиссиясымен қамтамасыз етеді талдау, облыстардың наноразмеров кезінде үлкен ұлғайту. * Зондтың диаметрі 0.5 нм-ден аз болса, талдау нүктесін нанометр деңгейіне дейін азайтуға болады. * Жаңа жоғары тұрақты бүйірлік жүктеу үлгісі қарапайым көлбеу, бұрылыс, жылыту және салқындату, бағдарламаланатын қондырғылар және басқалары механикалық дрейфсіз қамтамасыз етеді. JEOL JEМ – 2100 LaB6 200 кВ аналитикалық трансмиссиялық электронды микроскоп Дифракцияның люмені мен кескіндеріне суреттерді алуға ғана емес, сонымен қатар кез – келген комбинацияда TEM, сканерлеу режимінде кескін алу құрылғысы (STEM), энергия дисперсиялық спектрометр (JED-2300 T) және электронның энергия жоғалту спектрометрін (EELS) біріктіре алатын компьютерлік басқару жүйесін де қамтиды. Жоғарыажыратымдылық (Lab 6 катодындағы 200 кв-да 0,19 нм) ЖоғарыкернеуменСәуленіңтұрақтылығыныңарқасында, соныменқатаркереметлинзажүйесіменқолжеткізіледі. Микроскоптыңбағанжақтауыныңжаңақұрылымықұрылғыныңдіріләсеріназайтады. Жаңагониометриялықүстелүлгінінанометргедәлорналастыруғамүмкіндікбереді. Микроскоптыңкомпьютерлікбақылаужүйесібасқапайдаланушылардың (компьютерлердің) желісіарқылықосылуынжәнеолардыңарасындаақпараталмасудықамтамасызетеді. Соңғыуақытқадейінминерологтардыңқолындаекіклассикалыққұралболды – поляризациялықмикроскопжәнерентгендікдифракцияжабдықтары. Оптикалықмикроскоптыңкөмегіменминералдардыңморфологиясыменоптикалыққасиеттерінзерттейаламыз, егероларжарықтыңтолқынұзындығынанүлкенболса, қосжәнеламелалардызерттейаламыз. Рентгендікдифракциядеректеріэлементарұяшықтағыатомдардыңорнын 1-100 Å масштабындадәланықтауғамүмкіндікбереді. Алайда, Кристаллқұрылымыныңмұндайанықтамасыбізгемыңдағанэлементаржасушалардаорташақұрылымбереді; сондықтанбізбарлықұяшықтарбірдейекеніналдын-алақабылдаймыз. Сонымен қатар, 100 – 10,000 Å масштабындағы минералдарды сипаттайтын құрылымдық бөлшектердің маңыздылығы барған сайын айқын бола түсуде. Рентгенограммалардағы диффузды рефлекстер кіші домендердің бар екендігінің дәлелі ретінде түсіндірілді; құрылымды нақтылау кезінде лауэграммаларда байқалған астеризм немесе экстинк коэффициенттерінің шамалы мәндері кристалдардың құрылымында жетілмегендігін және әртүрлі ақаулардан тұратындығын көрсетті. Өлшемдері көрсетілген шектерде болатын гетерогенділікті зерттеу үшін электронды микроскоп өте жақсы құрал болып табылады. Мұндай зерттеулер минералдар мен тау жыныстарының салқындату және түзілу параметрлерін немесе олардың деформация жағдайларын сипаттайтын геологиялық ақпараттың маңызды көзі болып табылады. Минералогияда ол ашылғаннан кейін бірден қолданыла бастаған рентгендік дифракциядан айырмашылығы, электронды микроскопия алдымен металлургияда үлкен дамып, қолданыла бастады. 1939 жылы өнеркәсіптік құрылғылар жасалғаннан кейін электронды микроскоптың минералогия мен петрографияда әдеттегі құралға айналуы үшін 30 жылдан астам уақыт қажет болды. Электрондық микроскопияның артықшылығы-оның көмегімен құрылымдар мен текстураларды нақты кеңістікте бейнелеуге болады, сондықтан дифракциялық суреттерді есептеу арқылы оларды алудан гөрі нәтижелерді елестету оңай. Мұнда белгілі бір сақтық шараларын сақтау қажеттілігі туралы айту орынды. Оптикалық микроскоптағы бақылаулардан айырмашылығы, құрылымды тікелей электронды микроскоп арқылы көруге болмайды. Біз жай контрастты байқаймыз, мысалы, дислокация айналасындағы деформация өрісінен және бұл контраст құрылғы ішіндегі кескінге айналады. Электронды микроскопия рентгендік дифракция әдісімен жүргізілген зерттеулерді алмастырмайды. Екінші жағынан, электронды микроскопия деректері рентгендік мәліметтерді түсіндіруге негіз болған кезде көптеген мысалдар бар. Бұл екі әдіс бір-бірін тамаша толықтырады. жүктеу/скачать 1,81 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|