Ұнтақтау әдісі (Дебай-Шерерр әдісі). Бұл әдісте монохроматты сәуле шоғыры 1 жұқа қабырғалы капиллярлы түтікшеге қойылған, майда ұнтақ немесе түйіршікті түріндегі, кристалиттері кездейсоқ орналасқан поликристалды материал үлгіге 2 түседі.
Кристаллиттердің сызықтық өлшемдері 0,01мм-ден аспауы керек, әйтпесе эквивалентті емес кристаллографиялық жазықтардың орналасу бағыттарының жиынтығы жеткіліксіз болады.
Қандай да бір кристалит үшін дифракцияланған шоғыр (5.11) шартын қанағаттандырады, түзілген шоғырланған конустар бағытына қарай үлгіден шығады. Шоғырланған конустар өсі түсетін шоғыр бағытына бағыттас болады. Түсетін шоғырға перпендикуляр жазықтыққа орналастырған жазық фотопленкаға шоғырланған аймақ сериясы тіркеледі. Әдетте, цилиндр түрінде фотопленка 3 орналасқан цилиндрлік камералар қолданылады. Осы әдіс сцинтилляциялық немесе ионизациялық счетчигі бар дифрактометр негізінде жүзеге асуы мүмкін. Дебаеграмма сызықтарының интенсивтілігі мен орналасуы берілген заттың сол немесе басқа да кристалдық фазалары үшін жеке-жеке болады. Кристалдық құрылымның кез-келген өзгерісі, мысалы, фазалық ауысым нәтижесінде, дебаеграммасын ауыстырады. Ақаулардың бар болуы сызықтарды кеңейтеді. Дебай-Шеррер әдісін кристаллдық фазада екі немесе одан да көп түрлі заттары бола алатын қатты денелердің фазалық құрамын талдау үшін жиі қолданады.
