Отчет по лабораторной работе на тему обработка изображения атомно-силовой микроскопии по дисциплине «Современные инструменты контроля высокотехнологичного производства»
жүктеу/скачать 0,54 Mb.
|
Обработка образца CdS
Практическая частьВ качестве исследуемого образца был взят монокристалл CdS до обработки изопропиловым спиртом. Размер скана составил 50х50 мкм. Изображение образца представлено на рисунке 2. Рисунок 2 - Монокристалл CdS до обработки изопропиловым спиртом В программе для обработки АСМ изображений Gwyddion с помощью инструмента «Рассчитать одномерные статистические функции» получаем распределение высот данного скана. Экспортом данных строим график распределения высот в программе Origin, представленный на рисунке 3. Рисунок 3 - Распределение высот образца CdS до обработки изображения Как можно видеть на рисунке 2 на данном скане присутствует множество различных шумов, наклон. Помимо этого, присутствуют различные шумы на скане, царапины, также в нижней части скана есть ярко выраженные выделяющиеся полосы. Для устранения данных артефактов применяются следующие действия, реализуемые в программе Gwyddion: Вычитание средней плоскости (для того, чтобы убрать наклон); Убрать полиномиальный фон; Выровнять строки используя различные методы; Двумерная фильтрация Фурье осуществляется с помощью: обработка данных – исправить данные – двумерная фильтрация БПФ; Для того, чтобы убрать мелкие артефакты, использовался инструмент интерполировать небольшие дефекты, выбранные вручную. После обработки с помощью данных операций получили изображение, представленное на рисунке 4. Рисунок 4 – Изображение CdS после обработки в программе Gwyddion На рисунке 5 представлены статистические величины данного изображения. На рисунке 6 представлена 3D изображение данного скана. Рисунок 5 – Статистические величины обработанного изображения CdS Рисунок 6 – 3D изображение скана CdS после обработки в программе На рисунке 7 представлено распределение высот скана после обработки в программе Gwyddion. Рисунок 7 – Распределение высот CdS На рисунке 8 можем видеть профиль образца. На нем можно видеть неровности. С помощью измерения расстояний на графике получаем, что размеры неровностей составляют около 400 – 430 нм. Рисунок 8 – Профиль образца CdS жүктеу/скачать 0,54 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|