В данной работе был рассмотрен поэтапный анализ АСМ изображения, полученного с помощью сканирующего зондового микроскопа NTEGRA SPECTRA. На скане можно видеть резкие выступающие фрагменты. Извлекая профиль скана вдоль линий, которые пересекаются с этими фрагментами, видим, что их высота больше чем высота характерных неровностей образца.
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ
NTEGRA SPECTRA [электронный ресурс] // ЗАО «НТ-МДТ» [электронный ресурс] : [сайт]. – URL: https://ntmdt-russia.com/home/products/ntegra-spectra/ (дата обращения 15.04.2023). – Загл. с экрана. – Яз. рус.
Гришанков, А. А. Анализ и обработка изображений анодного оксида алюминия, полученных методом атомно-силовой микроскопии / А. А. Гришанков, Г. А. Воронова // Вестник Томского государственного университета. – 2020. – № 19. – С. 14-20.
Достарыңызбен бөлісу: |
