Материалов
Изучение структуры материалов
жүктеу/скачать 2,72 Mb. Pdf көрінісі
|
физико-химические методы исследования строительных материалов (3)
- Бұл бет үшін навигация:
- Фотографирование микроструктуры
| Изучение структуры материалов.
При исследованиях в отраженном свете можно полнее и с большей объективностью, чем в проходящем свете, изучить кристаллическую структуру материалов. Это обусловлено тем, что в полированных шлифах просматриваются разрезы кристаллов, располагающиеся лишь в одной плоскости, тогда как в проходящем свете изучается слой материала толщиной до 300 мкм, в котором кристаллы часто накладываются друг на друга, в связи с чем возникают ошибки в определении границ зерен. В отраженном свете весьма отчетливо просматриваются плоскости двойникования, становятся контрастными края кристаллов и дефекты их поверхности и выявляется макроструктура зерен по фигурам травления. При применении косого освещения и проведения исследования в темном поле можно получить и некоторые дополнительные данные о строении отдельных кристаллов и зерен. В отраженном свете более точны и количественные определения содержания отдельных фаз. В полированных шлифах можно объективнее характеризовать пористость материала, поскольку при их изготовлении не наблюдается выкрашивания зерен, образования трещин и т. п., что происходит при изготовлении прозрачных шлифов. В полированных шлифах отчетливо наблюдаются поры размером около 0,005- 0,008 мм и выше. Основными кристаллооптическими свойствами, определяемыми в отраженном свете, являются величины показателей отражения и двупреломления, которые используются при геолого-минералогическом описании пород. Фотографирование микроструктуры препаратов ведут с помощью съемных микрофотонасадок с применением в качестве фотоматериала и пластинки, и пленки. Фотонасадка крепится при помощи специального хомута на окулярной трубе микроскопа, она имеет специальное диоптрийное устройство, позволяющее получать на фотопластинке (пленке) столь же резкое изображение, как и при визуальном наблюдении. 82 Экспозиция при фотографировании подбирается опытным путем в зависимости от чувствительности фотопластинки, освещенности препарата, вида светофильтра и т. п. При использовании фотонасадки размером изображения 9х12 масштаб получаемого фотоснимка равен общему увеличению системы применяемых объективов и окуляров (объектив 40 х , окуляр 10 х , общее увеличение 40 х ∙ 10 х = 400). При камере размером 6,5x9 масштаб фотоснимка будет в 2 раза меньше, т. е. 200. В общем случае увеличение на микрофотографии определяется делением размера кристалла по фотоснимку (определенного линейкой) на истинный размер того же кристалла, предварительно' измеренный под микроскопом с помощью окуляр-микрометра. Качество изображения может быть улучшено за счет спектрального изменения светового потока в микроскопе, достигаемого применением светофильтров. Контрастные фильтры позволяют повышать контрастность окрашенных объектов: кристаллы, имеющие одинаковую с фильтром окраску, будут иметь светлый оттенок, а кристаллы, окрашенные в цвет, дополнительный к цвету фильтра, - в темный тон. При использовании контрастных светофильтров целесообразно применение панхроматических фотоматериалов. Для уменьшения силы светового потока (яркости изображения) в соответствии с чувствительностью фотоматериала применяют различные компенсационные фильтры: светоослабляющие, фильтры дневного света, теплозащитные и специальные желто-зеленые фильтры. Все эти фильтры обладают небольшим собственным поглощением света, поэтому при цветной микрофотографии их следует применять с учетом этого обстоятельства. Для выделения из видимой части спектра нужного излучения применяют избирательные фильтры - синий, зеленый, желтый, оранжевый и красный. Эти фильтры используют в специальной флюоресцентной микроскопии. Зеленые фильтры, устраняющие остаточную аберрацию ахроматических объективов, называются корригирующими фильтрами и применяются для повышения контрастности изображения. Синие фильтры повышают разрешающую способность микроскопов. 83 На рис. 4.3 приведены снимки макроструктуры по шлифам керамического кирпича из отходов обогащения углистых аргиллитов в проходящем свете выполненный профессором Столбоушкиным А.Ю. [11], где показано наличие поверхностей жүктеу/скачать 2,72 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|