Электрондық микроскопия құрылғысы емтихан сұрақтары



жүктеу/скачать 271,9 Kb.
бет1/2
Дата20.12.2023
өлшемі271,9 Kb.
#197978
  1   2
Байланысты:
Электрондық микроскопия құрылғысы емтихан сұрақтары 90 (копия)


Электрондық микроскопия құрылғысы емтихан сұрақтары

1

1

1

Электрондық микроскопия туралы жазыңыз.

1

1

2

Электронды микроскопияның негіздері жайлы жазыңыз.

1

1

3

Электронның заттармен әсері және талдау әдістері жайлы жазып беріңіз.

1

1

4

Электрондық оптика принциптері туралы айтып беріңіз

1

1

5

Электронды микроскоптын оптикалық жүйесі жайлы жазыңыз.

1

1

6

Обьективті жарықтандыру жүйесі жайлы жазыңыз.

1

1

7

Абберциялар жайлы жазып беріңіз.

1

1

8

Дисторсия жайлы жазыңыз.

1

1

9

Астигматизм жайлы жазып беріңіз.

1

1

10

Электрондық микроскоптың шығу тарихы жайлы жазып беріңіз.

1

2

1

Трансмиссиялық электрондық микроскоп құрылғысы өз сөзіңізбен жазыңыз.

1

2

2

Электрондық микроскопияның вакуумдық жүйесі жайлы өз сөзіңізбен айтыңыз.

1

2

3

Вакуумды өлшеу әдістері жайлы өз сөзіңізбен тұжырымдаңыз.

1

2

4

Термопаралық әдіспен Ионизациялық әдістерінің ұқсастықтары мен айырмашылықтарын көрсетіңіз.

1

2

5

Тікелей зерттеу әдісі жайлы тұжырымдаңыз.

1

2

6

Фольга әдісі жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

1

2

7

Химиялық және электрохимиялық полировка жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

1

2

8

Ионды химия әдісімен полировка жасау жайлы өз сөзіңізбен көрсетіңіз.

1

2

9

Трансмиссиялық электронды микроскопияда көріністі қалыптастыру жайлы тұжырымдаңыз.

1

2

10

Қалыңдық пен иілудің әсерлері және сөну контурлары жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

1

3

1

Фольганың электронды микроскопиядағы контрасты жайлы жазып реттеңіз.

1

3

2

Амплитудалық контраст жайлы жазып көрсетіңіз.

1

3

3

Тығыздық контрасты жайлы жазып көрсетіңіз.

1

3

4

Кристалдық заттардың кескініндегі амплитудалық контраст жайлы жазып дайындаңыз.

1

3

5

Фазалық контраст жайлы жазып реттеңіз.

1

3

6

Кристалдық тордың контрасты жайлы жазып көрсетіңіз.

1

3

7

Муар контрасты жайлы жазып көрсетіңіз.

1

3

8

Домен қабырғаларының контрасты жайлы жазып көрсетіңіз.

1

3

9

Кикучи сызығы жайлы жазып көрсетіңіз.

1

3

10

Дифракцияның динамикалық теориясының элементтері жайлы жазып дайындаңыз.

2

1

1

Пластикалық көшірмелер жайлы жазыңыз.

2

1

2

Пластикалық көшірмелерді көлеңкелеу жайлы жазып беріңіз.

2

1

3

Көшірмелерді дайындау әдістері жайлы жазыңыз.

2

1

4

Экстракция көшірмелері жайлы жазыңыз.

2

1

5

Көміртекті көшірмелері жайлы жазып беріңіз.

2

1

6

Оқсид және кварц көшірмелері жайлы жазыңыз.

2

1

7

Дислокацияны талдау жайлы жазып беріңіз.

2

1

8

Лоренцтік трансмиссиялық электронды микроскопия жайлы жазыңыз.

2

1

9

Ақаулары бар кристалдардың электронды микроскопиялық кескіндеріндегі контраст жайлы жазыңыз.

2

1

10

Электронография жайлы жазыңыз.

2

2

1

Электронографияның негізгі формуласы жайлы тұжырымдаңыз.

2

2

2

Электронограммаларды алу әдістері жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

2

2

3

Электронограммалардың түрлері жайлы өз сөзіңізбен айтыңыз.

2

2

4

Нүктелік электронограммалар және оларды қолдану жайлы жазыңыз.

2

2

5

Толқынды дисперсиялық спектрометр жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

2

2

6

Толқынды дисперсиялық спектрометрдің құрылымы жайлы тұжырымдаңыз.

2

2

7

Толқынды дисперсиялық спектрометрдің жұмыс істеу принципі жайлы өз сөзіңізбен тұжырымдаңыз.

2

2

8

Энергетикалық дисперсиялы спектрометр жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

2

2

9

Рентгенспекторлық микроанализатор құрылғысы және жұмыс істеу принципі жайлы өз сөзіңізбен тұжырымдаңыз.

2

2

10

Сандық рентгендік спектралды микроанализ принциптері жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

2

3

1

Сканерлеуші электронды микроскопия жазып көрсетіңіз.

2

3

2

Растрлық электронды микроскопия жайлы реттеңіз.

2

3

3

Сканерлеуші электронды микроскоптың жұмыс істеу принципі жайлы жазып көрсетіңіз.

2

3

4

Растрлық электронды микроскопияның жұмысы мен құрылымы жайлы жазып көрсетіңіз.

2

3

5

Сигналдарды өңдеу әдістері жайлы жазып көрсетіңіз.

2

3

6

Шағылған электрондық дифракцияның әдісі туралы жазып көрсетіңіз.

2

3

7

Растрлық электронды микроскоптың техникалық мүмкіндіктерін реттеңіз.

2

3

8

Растрлық электронды микроскоптың қолдану саласы жайлы жазып көрсетіңіз.

2

3

9

Микро-рентгендік спектралды талдау жайлы ашып көрсетіңіз.

2

3

10

Рентгендік микроанализаторлар жайлы жазып көрсетіңіз.

3

1

1

Электрондық дифракцияның негізгі ерекшеліктері жайлы жазыңыз.

3

1

2

Кері тор жайлы жазыңыз.

3

1

3

Кристалдағы қысқа толқынды сәулелердің дифракциясының шарттары жайлы жазып беріңіз.

3

1

4

Электрондық шоқтың затпен әсерлесуі жайлы айтыңыз.

3

1

5

Шағылған электрондар жайлы жазыңыз.

3

1

6

Екінші реттік электрондар жайлы айтыңыз.

3

1

7

Жұтылған электрондар жазып беріңіз.

3

1

8

Екінші реттік электрондарды тіркеу жайлы жазыңыз.

3

1

9

Жұтылған электрондарды тіркеу жайлы жазып беріңіз.

3

1

10

Фокустың тереңдігі және ажыратымдылық жайлы жазыңыз.

3

2

1

Нанокристалдық үлгілерді зерттеу әдісін әзірлеу жайлы тұжырымдаңыз.

3

2

2

Атомдық күш микроскопиясы жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

3

2

3

Атомдық күш микроскоптарының зондтық сенсорлары туралы тұжырымдаңыз.

3

2

4

Контактілі атомдық күш микроскопиясы жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

3

2

5

Күштің зонд сенсоры мен үлгі арасындағы қашықтыққа тәуелділігі жайлы жазып тұжырымдаңыз.

3

2

6

Атомдық күш микроскоп консольді тербелісінің контактісіз режимі жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

3

2

7

ТЭМ құрылғысы жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

3

2

8

ТЭМ құрылғысының жұмыс істеу принципі жайлы тұжырымдаңыз.

3

2

9

Термопаралық әдіс жайлы тұжырымдаңыз.

3

2

10

Ионизациялық әдіс жайлы өз сөзіңізбен жазыңыз.

3

3

1

Электронды зондтау микроскопиясы жайлы жазып көрсетіңіз.

3

3

2

Сканерленген зонд электронды микроскопы туралы жазып реттеңіз.

3

3

3

Сканерленген зонд электронды микроскопының құрылысы және жұмыс істеу принципі жайлы жазып көрсетіңіз.

3

3

4

Сканерлеуші зондты микроскоптардың түрлері жайлы жазып көрсетіңіз.

3

3

5

Туннельдік сканерлеу микроскопиясы туралы жазып көрсетіңіз.

3

3

6

Туннельдеудің физикалық негіздері туралы көрсетіңіз.

3

3

7

Туннельдік микроскоптарды сканерлеуге арналған зондтар жайлы жазып реттеңіз.

3

3

8

Сканерлеуші туннельдік микроскоптың техникалық мүмкіндіктері жайлы жазып көрсетіңіз.

3

3

9

Сканерлеуші туннельдік микроскоптың зерттеу обьектілеріне қойылатын талаптары жайлы жазып көрсетіңіз.

3

3

10

Рентгендік спектрлік микроанализдің техникалық мүмкіндіктері жайлы жазып көрсетіңіз.



      1. Электрондық микроскопия

      2. Электронды микроскопия негіздері

Қазіргі электронды микроскоптың көрсеткіштік қабілеттілігі 0,1-0,3 нм-ге дейін жетеді. Электрондық микроскоптың құрылыс принципі жарық микроскопына ұқсас, сәулелерінің рөлін электр тоғымен қыздырылған вакуумда орналасқан V пішінді фольфрам жібі электрондар тасқынының қызметін атқарады, әйнек линзалардың орнында электромагниттік линзалар орналасқан. Жарық микроскопының объективі мен окулярының орнына электрондық микроскоптың магниттік катушкалары сәйкес келеді. Электронды микроскопта міндетті түрде вакуум болуы қажет, себебі ауада электрондар алысқа кете алмайды, оттегі, азот немесе көмір қышқыл газы молекулалармен кездессе, олар бөгеліп өз жолын өзгертіп шашырай кетеді. Электрондар тасқынының бағытын қажетіне қарай қуатты электр өрісі немесе магнит өрісімен өзгертуге болады. Электрондардың жылдамдығы үдесе, электрондық микроскоптың шешуші кабілеті артады. Электронды микроскоптың экраны мен фотопластинкада 50 000 есе үлкейтуге, фотошығаруда одан да көп есе үлкейтуге (10) болады. Қазіргі уақытта флуоресценцияланатын экраннан электронды-микроскопиялық суреттерді сандық телекамерамен компьютерге беріледі. Принтерді пайдалана отырып, суреттерді шығара алады. Электронды микроскоптың көмегімен металл мен кристалды торларда зерттеуге қолданады.
Электронды микроскоптарда жарықтың орнына электрон сәулелері қолданылады, осыған байланысты қолданылатын қуаттың күші 50—100 кВ-қа дейін барады, ал толқын ұзындығы 0,056-0,035 А°-ге жетеді. Толқын ұзындығы неғұрлым қысқа болса, микроскоптың көрсеткіштік қабілеттілігі сорғұрлым артатынын физика курсынан жақсы білеміз. Осыған байланысты электронды микроскоптардың көрсеткіштік қабілеттілігі − 1-7 А°- ға, ал үлкейткіштік қабілеттілігі 600 000-ға дейін жетеді. Электронды микроскоптың көмегімен қарайтын заттың қалыңдығы 400−600А° препаратты көруге болады, өйткені қалың препараттан электрондар өте алмайды, олардың өткізгіштік қасиеті нашар. Электронды микроскопқа препарат дайындайтын приборды ультрамикротомдеп атайды. Осы прибордың көмегімен жұқа кесінді жасап, оны объекті торына бекітіп, арнайы бояулармен бояп, электронды микроскоппен қарайды. Электрон сәулелері препарат арқылы өткенде объектінің үлкейтілген «көлеңкесі» экранға түседі


Электронды микроскопия талдаулар ішіндегі негізгілерінің бірі больп табылады. Себебі бұл әдіс заманауи болып табылады. Электронды микроскопияның шыққанына енді 15 жыл болды. Өзінін осындай жас әдіс екендігіне қарамастан, қазіргі куүндерде өте көптеп қолданылуда. Онын себебі
Зерттеуші ғалымдар заттардың жанама керсеткіштеріне қарап оны әнгіме етуден, сол заттын структурасын 1 рет көргеніміз дұрыс деп санайды. Бул жаңа құрығыылар осыдан 5-10 жыл бұрынғыға қарағанда жинақы әрі арзанырақ. Қуатты компьютерлер және программалық жабдықтамалар экспериментті электронды микроскоппен жургізуді әжептауір оңай етті.
Электронды микроскопиянын негізгі құралдары мыналар болы табылады: жарықтандырғыш типтегі электронды микроскоп, атомдық деңгейдегі электронды микроскопия, сканерлеуші тунельді микроскоп және атомды - күшті микроскоп. Зерттеушілердің алдына , көп тура келетін жағдай, оптикалық микроскоптын шешуші куші зерттелуші заттын структурасын саулелендіруте жеткіліксіз. 1 мкм аумакты зерттейтін оптикалык микроскопты қолдану бізге қанағаттанарлық нәтижелер бермейді. Электронды микроскоптың жоғарғы шешушілік қабілеті және өте дәлдікпен жақын бізге материалдық структураның характерлік ерекшеліктерін, модификатор мен нуклеатор кристаллизациясының әсерлесуін бақылауға, кристаллдық фазанын идентифицировать етуге, кристалл және белшектердің размерлерін анықтауға, кұрамын анықтауға жане аморфты және кристаллды фазаның сандық қатынасын анықтауға мүмкіндік береді. Бұл, жердегі сруктура сөзінің негізінде, зерттелетін заттың геометриялық сипаттамалары жатыр. Мысалы: кристаллды немесе басқа белшектің формасы немесе размері, және олардың өзіндік реттілікпен орналасуы, орентациясы, т.б
Электронды микроскоп деген, әртүрлі объекттерді зерттеп сүретін өте үлкен масштабта үлкейтетін және сол кезде қолданылатын жарық орнына жылдам электрондар сәулесін пайдаланатын құрылғы.


Электронды микроскопта линзаның орнына белгілі конфигурациялары магнитті жане электрлік өріс алынады. Электронды микроскоптың шешушілік күшін бағалау үшін оның электронның толқындық құрамын ескеру керек. Толқын ұзындығының анықтау үшін бізде де Бройль қатынасы қолданылады. Электронды микроскоптын электрлік және магниттік өрісі аксиальді симметриялы болып келеді. Бұлардың негізгі қасиеттерінін бірі, зарядталған белшектер улкен емес бір бұрыштың қандай да бір нүктесінен шығып, өріс қозғалысымен барынша суретке түсіріп алуға тырысады.
Электронды микроскоп арқылы алынған үлкейтілген суреттер электрондардын вакуумдағы еркін қозғалысынан алынады. Электронды микроскоп негізіне бөлшектің құрамының мынадай қасиеттері жатады: белшектердің вакуумде қозғалуы жане заттың жуқа қабатынан ету мүмкіншілігі
Электронды сауле- үлгілерді қоздыруға жанеде жарықтандыруға қолданылатын жылдам электронды сауле
Жылдамдатқыш кернеу - электронды сәуленің кинетикалық энергиясын анықтайтын, электронды пушканынң электродтарынын арасындағы кернеу.
Ажыратымдылығы - микростуктуранын екі элементтерінін арасынданы азды кепті арақашықтық.


Жарықтандырылған сурет - микроструктуранын үлкейтілген суреті, электрондармен қалыптасқан, энергетикалык аз шығынмен ететін объект.
Карагылатьштай сурет - шашыранкы электрондармен калыгасады және өте шашыраңқы объекттерді сәулелендіруге қолданылады. Жарықтандырылған суретпен салыстырғанда негативті көрінеді.


Хроматты аберрация-объектті жарықтандырғаннан кейінгі электроннын жылдамдығынын темендеуі.
Ультрамикротом (ультратом)- шыны немесе алмаз пышақтар кемегімен ультра жұқа (0,01-0, Імкм) кеінді (турама) объектілерін алуда қолданылатын қондырғы.
Реплика - электрондарга қабат ретінде пайдаланылатын жұқа, туссіз полимерлі материал.



жүктеу/скачать 271,9 Kb.

Достарыңызбен бөлісу:
  1   2



©engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз
    Басты бет