Сырғанау бұрышы дегеніміз түсетін сәулемен кристаллографикалық жазықтықтықтың арасындағы бұрыш. Түскен рентген сәулесі кристал түйінінде орналасқан атомдарды қоздырады. Осының нәтижесінде қозған атомдар 1' және 2' екінші
ретті когерентті толқындардың кӛзі болып табылады және олар бірін – бірі интерференцияға ұшыратады. Толқындардың интерференциясы олардың жол айырымдарымен анықталады. 7- суреттен жол айырымы 2dsin -ға тең. Интенсивтіліктің максимумдарын дифракциялық максимумдар деп атайды. Интенсивтіліктер максимумдары атомдар жазықтықтарынан шағылған фазалары бірдей толқындардың ба-ғыттарында байқалады.
Сәулелердің шағылуы Вульф–Брэгг өрнегін қанағаттандыратын шарт бойынша орындалады:
-
2d sin m(m 1,2,3,...)
|
(8)
|
Жазықтықтардың кристалдағы саны ӛте кӛп болғандықтан оны ӛте кӛп саңылаулы дифракциялық тор ретінде қарастыруға болады: максимумдар ӛз орындарында қалады, алайда олар әлдеқайда сүйір болып келеді.
Егер монохроматты рентген сәулелері кез келген бағытта түсетін болса дифракция байқалмайды.
Дифракция пайда болуы үшін кристалды бұра отырып, сырғанау бұрышын табу қажет.
Кристалды орнынан қозғалтпаған жағдайда тұтас рентген сәулесін түсіру арқылы дифракциялық бейнені алуға болады. Рентген сәулесінің тұтас спектрін алу үшін арнайы рентген түтіктерін пайдаланады. Осы жағдайларда (8)-ші ӛрнекті қанағаттандыратын рентген сәулесінің әйтеуір бір - толқын ұзындығы табылады.
Вульф – Брэгг ӛрнегіне рентгенструктуралық талдау және рентгендік спектроскопия негізделеді.
Достарыңызбен бөлісу: | 
