А., Абуова Ф. У. Конденсирленген күй физикасы астана 2011
Бөлім. Толқындардың конденсирленген ортамен әсерлесуі
жүктеу/скачать 17 Mb.
|
Пособие по ФКС каз.окон
| 5. Бөлім. Толқындардың конденсирленген ортамен әсерлесуі
5.1. Кристалдардың құрылымын зерттеу үшін қолданылатын электромагнитті толқындар Кейбір кристалды үлгілердің сыртқы симметриясы жөнінде ақпаратты макроскопиялық және микроскопиялық зерттеулердің көмегімен алуға болады. Дегенмен, көрінетін және ультракүлгін сәулеленудің ( ~ 5000 —1000 А) рұқсат ету қабілеттілігі кристалдағы молекулалар мен атомдардың кеңістікте орналасуы мен олардың арасындағы қашықтығын анықтау үшін айтарлықтай жеткіліксіз, өйткені бұл арақашықтық шамасы бірнеше ангстремді құрайды (10 -10м). Қандай да бір объектінің құрылымын микроскоп астында зерттеу, жалпы жағдайда, толқын ұзындығы төмендегі теңсіздікпен анықталатын, арақашықтан кем болатын сәулеленуді пайдалануды болжайды: зерт< dөлш (5.1) Бұл жағдайда геометриялық оптика заңдарын қолдануға болады. (5.1) шартын қанағаттандыратын сәулеленудің толқын ұзындығы жоғары энергиялы қатты -сәулеленуге, - сәулеленуге сәйкес келеді. Дегенімен, қатты гамма -сәулеленудің затпен әлсіз әсерлесуінің салдарынан оны қолдану қиындықтарды тудырады. - сәулеленудің (электрондар) керісінше, үшөлшемді кристалдың құрылуын талдау үшін өтімділік қасиеті жеткіліксіз. Оған қарамастан, белгілі құрылымы бар кейбір кристалдардың бетіндегі жазық атомдық торлардың микроскопиялық бейнесін алуға мүмкіндік беретін, жоғары рұқсат етілген электронды микроскоп бар. Соңғы жылдары сканерлеуші туннелді микроскоптар (СТМ) мен атомдық күштік микроскоптардың (АКМ) мүмкіндіктерімен байланысты микроқұрылымдық зерттеулердің жаңа әдістері пайда болды. Дегенмен, қазіргі уақытта кристалдық құрылымды зерттеудің дифракциялық әдістері өте жақсы дамыған, онда атомдық жазықтармен әсерлесетін диффракциялық толқындарды қолданады. Осы толқындардың ұзындығының шамасы кристалдағы атом арасындағы қашықтық шамасымен салыстырмалы болуы керек: зерт ~ dhkl (5.2) Фотондар, нейтрондар мен электрондардың дифракциясын қолдану арқылы да кристалдың құрылымын зерттейді. Осы әдістер арқылы қарапайым ұяшықтың өлшемін, ядролардың орналасуын, ұяшықтағы электрондардың үлестірілуін анықтауға болады. Дифракцияланған толқынның сырғу бұрышы қристалдың құрылымы мен түсетін сәуленің толқын ұзындығына тәуелді. жүктеу/скачать 17 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|