А., Абуова Ф. У. Конденсирленген күй физикасы астана 2011
жүктеу/скачать 17 Mb.
|
Пособие по ФКС каз.окон
| Микроско́п
Микроско́п Microscope Объектінің үлкейтілген бейнесін алуға арналған құрал. — атомды-күштік микроскоп / микроскоп атомно-силовой / atomic-force microscope – кантилевер инелерінің (зондының) зерттелетін үлгі бетімен әркеттесуіне негізделген, ажырату қабілеті жоғары, сканерлеуші зондылы микроскоп. Көбінесе бұл әрекеттесуді Ван-дер-Ваальс күшінің есебінен кантилевердің беттен тебілуі немесе оған тартылуы деп түсінеміз. Бірақ туннельді және арнайы кантилеверлермен беттің электрлік және магниттік қасиеттерін зерттеуге болады. Сканерлеуші туннельді микроскоптан ерекшелігі мұнымен өткізгіш беттерді де және өткізбейтін беттерді де, тіпті сұйық қабаты арқылы да зерттеуге болады. Бұл органикалық молекулалармен жұмыс істеуге мүмкіндік береді. Атомдық-күштік микроскоптың кеңістіктегі ажыратқыштығы кантилевердің өлшеміне және оның ұшының қисықтығына байланысты. Ажыратқыштық горизонталь бағытта атомдық өлшемге және вертикаль бағытта одан жоғары болады. — иондық микроскоп / микроскоп ионный / ion microscope – бейне алу үшін термоионды немесе газды разрядты иондық көзбен жасалынатын иондық шоқ қолданылатын электронды оптикалық құрал. — ионды өрістік микроскоп / микроскоп полевой ионный (проектор ионный, микроскоп автоионный) / field-ion microscope – қатты дене бетінің бірнеше миллион есе ұлғайтылған кескінін алуға арналған линзасыз ионды-оптикалық құрал. — электронды өрістік микроскоп / микроскоп полевой электронный (проектор электронный, автоэлектронный микроскоп) / field-electron microscope – қатты дене бетінің 10 – 10 есе ұлғайтылған кескінін алуға арналған линзасыз электронды оптикалық құрал. — электронмен жарықтандырылатын микроскоп / микроскоп просвечивающий электронный / transmission electron microscope – зерттелетін объектіні жарықтандыру үшін үдетілген электрондар шоғыры қолданылатын микроскоп. — растрлы микроскоп(сканерлеуші) / микроскоп растровый (сканирующий) / scanning microscope – орналасу қалыбы (сканерлеу) электромагнитті өрістің көмегімен басқарылатын, қызметі алдын ала қалыптастырылған жұқа электрондық сәулені қолдануға негізделген, электронды микроскоп. Электрон шоқтарының әсерінен берілген материалға және оның құрылысына тән бірнеше процестер жүзеге асады. Оларға бірінші ретті электрондардың шашырауы, екінші ретті электрондардың шығарылуы (эмиссиясы), объект арқылы өтіп кеткен электрондардың пайда болуы, рентген сәулелерінің пайда болуы жатады. Бірқатар арнайы жағдайларда (люминесценцияланушы материалдарда, жарылай өткізгіштерде) жарықтың сәулеленуі болады. Объектіден шығатын электрондарды, сонымен қатар сәулеленудің басқа түрлерін (рентгендік, жарықтық) тіркеу зерттелетін объекті микроучаскілерінің әр түрлі қасиеттері туралы мәлімет береді. Электронды зондтың ашылуымен синхронды түрде үлкен кинескоптың сәулесі ашылады. — растрлы микроскоп (туннельді) / микроскоп растровый(туннельный) / scanning tunnel microscope — z арақашықтығы шамамен 0,1 нм болатын өткізгіш беті мен металл ұшының арасындағы(олардың арасындағы потенциалдар айырымы шамамен 1 В) туннельді токтың туындауына негізделген электронды микроскоп. Токты тұрақты етіп ұстап тұрып және ұшты бет бойымен қозғалтқан кезде (сканерлегенде) z-тің өзгеруі есебінен атом және молекула өшемдеріне дейінгі дәлдіктегі өткізгіш бетінің рельефін алуға болады, яғни беттің атомдық құрылысын, жеке молекулалардың құрылысын, адсорбцияны, беттік химиялық процестерді және басқа да қасиеттерді зерттеуге болады. жүктеу/скачать 17 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|