5.1-сурет. Рентгендік сәуленің кристаллографиялық жазықтықтан шағылысуы.
Дифракциялық максимумдар атомдық жазықтықтан шағылысқан барлық толқындар бір фазада болатын бағыттарда байқалады. Бұл бағыттар Вульф-Брэгг теңдеуін қанағаттандырады:
2dhkl sin = m (m=1,2,3,…) (5.11)
Яғни, дифракциялық максимум толқын ұзындығының бүтін санына тең көрші кристаллографиялық жазықтықтан шағылысатын екі сәуленің арасындағы жол айырымына тең.
Рентгенді құрылымды талдау әдісі түсіру шартына байланысты екі түрге бөлінеді: а) сәуленің кристаллға түсу бұрышы тұрақты, бірақ толқын ұзындығы өзгереді; б) толқын ұзындығы тұрақты, ал түсу бұрышы өзгереді. Екі жағдайда фотопластинкаға, пленкаға немесе есептегішке Вульф-Брэггтер шартына жауап беретін дифракциялық максимумдер тіркеледі.
а) түріндегі әдіске Лауэ әдісі жатады, ал б) түріндегі әдіске айналу әдісі Дебай-Шерер әдісі жатады. Осы әдістерді толығырақ қарастырып өтейік.
Достарыңызбен бөлісу: |
