Жексенбай н

Бұл жағдайда толық ішкі сыну көрсеткішімен ғана толық ішкі шамасына байланысты.

Осы тәуелділік аналитикалык мақсаттарда қолданылатын аспаптардың (рефрактометр), конструкциясында ескерілсді. Сыну көрсеткіші аналитикалық параметрлерден (құрамы, табиғаты, тығыздығы) басқа жарық ағындарының толқын ұзындығына, температураға, қысымға (газдар үшін) байланысты. Осы параметрлердің әсерін жою үшін стандартты ерітінділер мен талданатын заттың сыну көрсеткішінің өзгеруін бірдей жағдайларда (: Т: Р) жүргізеді.

Рефрактометрияда заттың концентрациясын анықтау үшін іс жүзінде қолдану барысында стандартты ерітінділер сериясы үшін сыну корсеткішін өлшеп, n = f (с) координатасында график тұрғызылатын градуирлеу әдісін пайдаланылады.

Тура осы жағдайда талданылатын ерітіндінің сыну көрсеткішін.

Рефрактометрияда заттың концентрациясын анықтау үшін іс жүзінде қолдану барысында стандартты ерітінділер сериясы үшін сыну корсеткішін өлшеп, n = f (с) координатасында график тұрғызылатын градуирлеу әдісін пайдаланылады.

Тура осы жағдайда талданылатын ерітіндінің сыну көрсеткішін өлшеп, градуирлеу графигі бойынша онын концентрациясын табады. Анықталатын заттың ерітіндісін талдауда да рефрактометрлік фактор колданылады. Ол үшін екі стандартты ерітіндінің сыну көрсеткішін өлшеп, мына формула бойынша рефрактометрлік факторды табады:
F = (n₂ – n₁)/(с₂ – с₁); (с₂ > с₁) (35)
Содан кейін таза ерітіндінің (n₀) және аныкталатын зат ерітіндісінің (n_х) сыну көрсеткішін өлшейді, олардың қатынасын қолдана отырып ізделінетін компоненттің концентрациясын есептейді:

с_х = (n_х – n₀) / Ғ