3.1 Построение тестов для комбинационной релейно-контактной схемы
Рассмотрим построение проверяющего и диагностических тестов для релейно-контактной схемы, заданной в виде ФАЛ F = {0, 3, 4, 5} a,b,c.
Минимизируем заданную ФАЛ с помощью карты Карно (рис. 3) и построим релейно-контактную схему для функции F = {000, 011, 100, 110}.
Рисунок 3 – Карта Карно
В результате этой операции получаем минимизированную функцию
Комбинационная релейно-контактная схема, соответствующая полученной ФАЛ, представлена на рис. 4. Она содержит три входных реле – А, В, С – и шесть контактов .
Общее число проверок для схемы с m входами равно 2m. Рассмотрим только одиночные неисправности контактов. Для построения тестов релейно-контактной схемы будем использовать ТФН.
Рисунок 4 – Комбинационная релейно-контактная схема
Элементарная проверка для схемы заключается в подаче на ее входы определенного набора значений входных переменных (состояний кнопок SВА, SВВ, SВС) и определении факта наличия проводимости схемы по состоянию реле F.
Общее число проверок для схемы с m входами равно 2m. Следует, 23 = 8 – общее число проверок. На основании построенной ТФН и в соответствии с выражением:
где F – функция исправного объекта;
fi – функция i-го состояния неисправного объекта;
Таблица 4 – Таблица функций неисправности
Входной набор
|
F
|
f1
|
f2
|
f3
|
f4
|
f5
|
f6
|
f7
|
f8
|
f9
|
f10
|
f11
|
f12
|
№
|
a
|
b
|
c
|
|
a11
|
a10
|
b11
|
b10
|
c11
|
c20
|
b21
|
b20
|
c21
|
c20
|
a21
|
a20
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
1
|
0
|
2
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
3
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
4
|
1
|
0
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
5
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
0
|
6
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
7
|
1
|
1
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
Функции неисправностей:
|
Проверяющая функция:
|
;
|
φ1 = 5 v 6 v 7;
|
;
|
φ2 = 3 v 5 v 6;
|
;
|
φ3 = 1 v 5 v 6;
|
;
|
φ 4 = 3 v 5 v 6;
|
;
|
φ 5 = 2 v 7;
|
;
|
φ 6 = 3 v 5 v 6;
|
;
|
φ 7 = 2 v 5 v 7;
|
;
|
φ 8 = 0 v 4 v 6;
|
;
|
φ 9 = 1 v 5 v 6;
|
;
|
φ 10 = 0 v 5 v 6;
|
;
|
φ 11 = 1 v 5 v 6;
|
.
|
φ 12 = 6.
|
Проверяющий тест в соответствии с выражением равен:
Tп = φ1* φ 2* … * φ n;
Tп = φ1 ∙ φ2 ∙ φ3 ∙ φ4 ∙ φ5 ∙ φ6 ∙ φ7 ∙ φ8 ∙ φ9 ∙ φ10 ∙ φ11 ∙ φ12
Тп = (5v6v7)∙(3v5v6)∙(1v5v6) ∙(3v5v6) ∙(2v7)∙(3v5v6) ∙(2v5v7)∙ (0v4v6) ∙(1v5v6) ∙
∙ (0v5v6) ∙ (1v5v6) ∙ 6 = (5v6v7) ∙ (3v5v6) ∙ (1v5v6) ∙ (2v5v7) ∙ (0v4v6) ∙ (0v5v6) ∙
∙ (2v7) ∙ 6
Тп = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 6 ∙ 7
Проверяющий тест, содержащий 3 минимальных теста:
Tп1 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7;
Tп2 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 6 ∙ 7.
Построение диагностических тестов для комбинационной релейно-контактной схемы.
Согласно выражению
Для каждой пары неисправностей ТФН находим различающую функцию
φ12 = 3v7;
φ13 = 1v7;
φ14 = 3v7;
φ15 = 2v7
φ16 = 3v7;
φ17 = 2v6;
φ18 = 0v4v5v7;
φ19 = 1v7;
φ1,10 = 0v7;
φ1,11 = 1v7
φ1,12 = 5v7.
|
φ34 = 1v3;
φ35 = 1v2;
φ36 = 1v3;
φ37 = 1v2v6v7;
φ38 = 0v1v4v5;
φ39 = не сущ.;
φ3,10 = 0v1;
φ3,11 = не сущ.;
φ3,12 = 1v5;
|
φ56 = 2v3;
φ57 = 6v7;
φ58 = 0v2v4v5;
φ59 = 1v2;
φ5,10 = 0v2;
φ5,11 = 1v2;
φ5,12 = 2v5;
|
φ78 = 0v2v4v5v6v7;
φ79 = 1v2v6v7;
φ7,10 = 0v2v6v7;
φ7,11 = 1v2v6v7;
φ7,12 = 2v5v6v7;
φ89 = 0v1v4v5;
φ8,10 = 4v5;
φ8,11 = 0v1v4v5;
φ8,12 = 0v4;
|
φ23 = 1v3;
φ24 = не сущ.;
φ25 = 2v3;
φ26 = не сущ.;
φ27 = 2v3v6v7;
φ28 = 0v3v4v5;
φ29 = 1v3;
φ2,10 = 0v3;
φ2,11 = 1v3;
φ2,12 = 3v5;
|
φ45 = 2v3;
φ46 = не сущ.;
φ47 = 2v3v6v7;
φ48 = 0v3v4v5;
φ49 = 1v3;
φ4,10 = 0v3;
φ4,11 = 1v3;
φ4,12 = 3v5;
|
φ67 = 2v3v6v7;
φ68= 0v3v4v5;
φ69 = 1v3;
φ6,10 = 0v3;
φ6,11 = 1v3;
φ6,12 = 3v5;
|
φ9,10 = 0v1;
φ9,11 = не сущ.;
φ9,12 = 1v5;
φ10,11 = 0v1;
φ10,12 = 0v5;
φ11,12 = 1v5.
|
Построение диагностических тестов для комбинационной релейно-контактной схемы
Диагностический тест для рассматриваемого примера имеет вид
Тд=φ12 φ13 ,…, φ34
Тд = (3v7) ∙ (1v7) ∙ (2v7) ∙ (2v6) ∙ (0v4v5v7) ∙ (0v7) ∙ (5v7) ∙ (1v3) ∙ (2v3v6v7)∙
∙ (0v3v4v5) ∙ (0v3) ∙ (3v5) ∙ (1v2) ∙ (1v2v6v7) ∙ (0v1v4v5) ∙ (0v1) ∙ (1v5) ∙
∙ (6v7) ∙(0v2v4v5) ∙ (0v2) ∙ (2v5) ∙ (0v2v4v5v6v7) ∙ (0v2v6v7) ∙ (2v5v6v7) ∙
∙ (4v5) ∙ (0v4) ∙ (0v5)
Тд = 0 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 5 ∙ 6 ∙ 7 v
v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 7 v 1∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 6.
Из результатов анализа полученного множества, диагностический тест содержит 10 минимальных тестов:
Тд1 = 0 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7; Тд3 = 0 ∙ 1 ∙ 5 ∙ 6 ∙ 7; Тд5 = 1∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 5 ∙ 7;
Тд2 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 5 ∙ 7; Тд4 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 7; Тд6 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 6.
Словарь неисправностей, построенный для Тд1, представлен в таблице 2
Таблица 5 - Словарь неисправностей для Тд1
Входной набор
|
F
|
f1
|
f2 f4
|
f3 f9 f11
|
f5
|
f6
|
f7
|
f8
|
f10
|
f12
|
№
|
a
|
b
|
c
|
a11
|
a10 b10
|
b11c21a21
|
b21
|
b21
|
b21
|
b20
|
c20
|
a20
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
0
|
1
|
2
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
3
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
5
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
7
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
Диагностический 2-го вида определяется в том случае, если заранее не известно, что тестируемая схема неисправна. В этом случае диагностический тест Т д' определяется по выражению
Тд' = Тп · φ1,2 · φ1,3·…· φn.
Тд' = 0·1·2·3·5∙7
Словарь неисправности представлен для минимального диагностического теста Тд' приведен в таблица 2.
Таблица 6 - Словарь неисправностей для Т д'
Входной набор
|
F
|
f1
|
f2 f4
|
f3 f9 f11
|
f5
|
f6
|
f7
|
f8
|
f10
|
f12
|
№
|
a
|
b
|
c
|
a11
|
a10 b10
|
b11c21a21
|
b21
|
b21
|
b21
|
b20
|
c20
|
a20
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
0
|
1
|
1
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
2
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
3
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
5
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
7
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
0
|
Поиск неисправностей осуществляется следующим образом. На входы схемы последовательно подаются входные наборы, входящие в диагностический тест. Для каждого случая фиксируется значения выхода схемы по состоянию реле F. Полученные результаты сравниваются с данными, приведенными в слове неисправностей (табл. 5 / 6). Совпадение состояний выхода реле и состояний, приведенных в столбце словаря неисправностей, указывает на неисправность или на класс эквивалентных неисправностей, которые соответствуют данному столбцу.
Достарыңызбен бөлісу: |