Дислокацияны зерттеу әдістері
|
Үлгінің қалыңдығы, мкм
|
Дислокация бейнесінің ені, мкм
|
Дислокацияның 1см2 дегі максималді тығыздығы
|
Электрондық микроскопия
|
10-0-10-1
|
10-2
|
1011-1012
|
Рентгендік топография (өтімділік үшін)
|
102-103
|
5
|
104-105
|
Рентгендік топография (шағылысу үшін)
|
2-50
|
2
|
106-107
|
Оптикалық микроскопия (өңдеу шұңқырлары бойынша)
|
Кез-келген
|
0,3-0,5
|
10-6-10-7
|
Кез-келген тығыздықтағы дислокацияны электронды микроскоп арқылы, ал жақсы жетілдірілген, идеал монокристалдардағы дислокацияларды рентгендік топография (идеал, жетілдірілген кристалл арқылы өткен рентгендік сәуленің интенсивтілігін өлшеуге немесе суретке түсіруге негізделген әдіс) арқылы байқауға болады. Дислокацияны бақылау әдістері дислокацияның өзін емес, кристалдық тордың бұрмалануын көрсететіндігін айту керек.
Кейде дислокацияның іздерін арнайы таңдалып алынған химиялық өңдеу арқылы кристалдың бетіндегі «өңдеу шұңқырлары» бойынша байқауға болады. Бұл әдіс мынаған негізделген, өңдеуші кристалдық тордың дислокациясы маңындағы бұрмалау жақтарын қатты ерітеді, сондықтан дислокацияның кристалл бетіне шығатын орындарында шұңқырлар көрінеді. Жарық микроскобын пайдалану барысында оның рұқсат ету шегі 0,5-1 мкм–ге дейін болатындығын ескеру керек, яғни дәл осындай арақашықтықта орналасқан "өңдеу шұңқырлары" бөлек-бөлек болып көрінеді, ал дислокацияның тығыздығы жоғары болғанда бірігіп кетеді.
Достарыңызбен бөлісу: |
