А., Абуова Ф. У. Конденсирленген күй физикасы астана 2011


Дислокацияны зерттеу әдістері



бет38/126
Дата08.02.2022
өлшемі17 Mb.
#123337
1   ...   34   35   36   37   38   39   40   41   ...   126
Байланысты:
Пособие по ФКС каз.окон

Дислокацияны зерттеу әдістері

Үлгінің қалыңдығы, мкм

Дислокация бейнесінің ені, мкм

Дислокацияның 1см2 дегі максималді тығыздығы

Электрондық микроскопия

10-0-10-1

10-2

1011-1012

Рентгендік топография (өтімділік үшін)

102-103

5

104-105

Рентгендік топография (шағылысу үшін)

2-50

2

106-107

Оптикалық микроскопия (өңдеу шұңқырлары бойынша)

Кез-келген

0,3-0,5

10-6-10-7

Кез-келген тығыздықтағы дислокацияны электронды микроскоп арқылы, ал жақсы жетілдірілген, идеал монокристалдардағы дислокацияларды рентгендік топография (идеал, жетілдірілген кристалл арқылы өткен рентгендік сәуленің интенсивтілігін өлшеуге немесе суретке түсіруге негізделген әдіс) арқылы байқауға болады. Дислокацияны бақылау әдістері дислокацияның өзін емес, кристалдық тордың бұрмалануын көрсететіндігін айту керек.


Кейде дислокацияның іздерін арнайы таңдалып алынған химиялық өңдеу арқылы кристалдың бетіндегі «өңдеу шұңқырлары» бойынша байқауға болады. Бұл әдіс мынаған негізделген, өңдеуші кристалдық тордың дислокациясы маңындағы бұрмалау жақтарын қатты ерітеді, сондықтан дислокацияның кристалл бетіне шығатын орындарында шұңқырлар көрінеді. Жарық микроскобын пайдалану барысында оның рұқсат ету шегі 0,5-1 мкм–ге дейін болатындығын ескеру керек, яғни дәл осындай арақашықтықта орналасқан "өңдеу шұңқырлары" бөлек-бөлек болып көрінеді, ал дислокацияның тығыздығы жоғары болғанда бірігіп кетеді.




Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   34   35   36   37   38   39   40   41   ...   126




©engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет