Визуальдік фотометрияға мынадай светофильтрлер қажет:
№2, 3, 4, 5, 6, 10, 11.
9.4. Бақылау сұрақтары
1. Визуальдік әдісті түсіндіріңіз
2. Жарықтағыштың оптикалық схемасы?
3. Мөлдір заттардың сәуле өткізгіштік коэффициенті Е-ні өлшеу
9.5. Қолданылған әдебиеттер
1. А.В.Кортнев. Практикум по физике.
2. И.В.Савельев. Курс общей физики. Том ІІІ.
3. П.П.Полатбеков. Оптика /на.каз.яз/.
10 – зертханалық жұмыс
ЛИННИК МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРЫҢ КӨМЕГІМЕН МЕТАЛЛ ПЛАСТИНА БЕТТЕРНІҢ ӨҢДЕЛУ САПАСЫН ТЕКСЕРУ
10.1. Керекті құрал–жабдық. МИИ – 4 Линник микроинтерферометры, зерттелетін металл пластиналары.
10.2. Жұмыстың мақсаты. Жарықтың интерференциясын бақылау арқылы металл пластинаның бетінің өңделуін зерттеу, пластина бетінде кездесетін кедір – бұдырлардың тереңдігін есептеп шығару.
10.3. Жұмысқа жіберілу үшін студенттердің білуге тиісті сұрақтары:
10.3.1. Интерференция құбылысы қандай құбылыс?
10.3.2. Когеренттік сәулелер деген қандай сәулелер?
10.3.3. Когеренттік сәулелерді қандай әдістермен алуға болады?
10.3.4. Когеренттік сәулелердің алу әдістері қандай принципке негізделген.
10. 4. Жұмыстың қысқаша теориясы
10.4.1. Өңделген жазықтықтардың сапасын зерттеу үшін және сол жазықтықтардың беттерінде кездесетін кедір– бұдырлардың, тырнақ іздерінің тереңдігін есептеп шығару үшін Линник микроинтерферометры қолданылады. Құралдың жұмыс істеу принципі когеренттік сәулелердің интерференциялану құбылысына негізделген.
10.4.2. Құралдың оптикалық схемасын және құралдағы сәулелер жолын қарастырайық.
10.1. – сурет
Жарық көзінен шыққан жіңішке жарық шоғы линза арқылы өтіп шала мөлдір пластинканың бетіне түседі. Бұл пластинка жарықты екі шоққа (2) және (3) айырады. Жарық шоғының бipeyi (2) зерттелетін пластинканың бетіне ІІ / ал екіншісі (3) тегіс эталондық айнаның бетіне түседі. Бұл жарық шоқтары /сәулелер/ П пластинканың және айнаның беттерінен шағылып қайтадан шала – мөлдір пластинканың бeтiнe түседіде, интерферометрден екі когеренттік жарық шоғы /4/ болып шығады. Осы екі когеренттік жарық шоқтарының интерференциялану нәтижесінде пайда болатын сурет окуляр /Ок/ арқылы бақыланады. Бақылау ыңғайлы болу үшін интерференцияланатын сәулелердің бағыты А2 айнаның көмегімен өзгертіледі.
10.4.3. 2 – ші сәуле Р пластинка арқылы екі рет өтеді /жоғары және төмен/. Осы кезде пайда болатын қосымша жол айырымын жою үшін, 3-ші сәуленің жолына қалыңдығы Р пластинканың қалыңдығындай және оған параллель шыны пластинка /К/ орнатылады.
10.4.4. Бұл схемадағы сәулелер жол айырымы демек интерференцияның cypeтінің түpi интерферометр иіндерінің бірдей еместігіне П пластинка мен A, айнаның беттерінің өңделуіне және сәулелердің осы беттерге түсу бұрышына тәуелді. Егер зерттелетін пластинканың беті өте жоғары дәлдікпен /сапалы өнделсе, онда интерференцияның суреті кезектесіп орналасқан қара қоңыр және жарық жолақтардан тұрады.
Сонда қара – қоңыр жолақтарға /минимумдарға/ шамасы
болып келетін ал жарық жолақтарға /максимумдерге/ шамасы λ, 2λ, 3λ жол айырымы сәйкес келеді. Егер зерттелетін жазықтықтың бетінде тереңдігі 2 – ге тең із болса, онда жарық осы із арқылы eкі рет өткендіктен, 2 – ге тең қосымша жол айырымы пайда болады, сол себептен интерференциялық жолақ майысып, көршілес жолақтың минимуміне жетеді /2-сурет/. Осылайша ізге сәйкес болып келетін интерференциялық суреттегі барлық жолақтар майысады.
Жолақтың майысу шамасы екі жолақтың ара қашықтығы А-ға тең болады. Егер жолақтың майысу шамасы Nа ға тең болса, онда іздің тереңдігі
Достарыңызбен бөлісу: |