СЭМ
мониторының
экрандарындағы
қара-ақ
көріністер
зерттелетін нысанды ұсынады,
сонымен қатар, аса ашық жерлер
шағылған электрондардың көптеген жиынына, ал
аса ашық емес
жерлер аздаған жиынына сәйкес келеді..
Көбінесе, СЭМ-дегі үлгілер вакуум жағдайында зерттеледі. Олар
вакуумның әсерінен сығылысып қалмауы және пішінін өзгертпеуі
үшін оларды мұқият дайындау қажет. Биологиялық үлгілерді олар
қозғалып кетпеуі үшін кептіреді және қабықшамен қаптайды. СЭМ-
дағы
көрініс электрондардың көмегімен түзілетіндіктен, үлгілер
электр тоғын өткізулері тиіс. Арнайы платформаға орнықтырылған
үлгіге, металдың өте жұқа қабатын шаңдатып отырғызады да, тоқ
өткізгіш беттік қабат жасайды.
Микроскоптан ауаны сорып алғаннан кейін шоқ көзі жоғары
энергияның электрон шоғырларын, оларды бір нүктеге фокустайтын
магнит линзаларының бірнешеуі арқылы жібереді.
Ауытқытушы катушкалардың жиыны (4.1-суретті қараңыз) үлгі
бетін
сканирлей отырып, фокусталған шоқтың алдыға-артқа орнын
ауыстырады. Электрондар шоғыры үлгіге түсіп және үлгіден басқа
электрондарды немесе оны өткізетін жамылғыны ұрып шығарады.
Детектор шағылған және ұрылған
электрондарды ұстап қалады
және күшейткішке дабыл береді. Үлгі бетінің барлық сканирленген
бөліктерінен дабылдар күшейгеннен кейін бірге жинақталады және
монитор экранында бейнеленеді.
Достарыңызбен бөлісу: 
