Р. С. Белкина Издательство норма

Система общеэкспертных методов исследования вещественных доказательств включает:

методы анализа изображений;

методы морфологического анализа;

методы анализа состава;

методы анализа структуры;

методы изучения физических, химических и других свойств. Методы анализа изображений используются для исследования традиционных криминалистических объектов — следов человека, орудий и инструментов, транспортных средств, а также документов, кино-, фото-и видеоматериалов и пр.⁹⁶

Под морфологией понимают внешнее строение объекта, а также форму, размеры и взаимное расположение (топография) образующих его структурных элементов (частей целого, включений, деформаций, дефектов и т. п.) на поверхности и в объеме, возникающих при изготовлении, существовании и взаимодействии объекта. Наиболее распространенными методами морфологического анализа являются оптическая микроскопия — совокупность методов наблюдения и исследования с помощью оптического микроскопа.

Среди микроскопических методов, используемых при исследовании вещественных доказательств, выделяют метод светлого поля в проходящем свете — используется для исследования прозрачных объектов с включениями. Пучок света, проходя через непоглощающие зоны препарата, дает равномерно освещенное поле. Включение на пути пучка частично поглощает его, частично рассеивает, вследствие чего изучаемая частица выглядит темным пятном на светлом фоне. Для наблюдения прозрачных не поглощающих свет объектов, невидимых при методе светлого поля, используют метод темного поля в проходящем свете. Изображение создается светом, рассеянным элементами структуры препарата, который отличается от среды показателем преломления. В поле зрения микроскопа на темном фоне видны светлые изображения деталей. Наиболее часто методы светлого и темного поля используются в экспертном исследовании ювелирных камней и объектов биологической природы. Микроскопические исследования в проходящем свете осуществляются с помощью биологических микроскопов (типа МБИ и МБР).

Для наблюдения непрозрачных объектов применяют метод светлого поля в отраженном свете. Свет на объект падает под углом, и морфология объекта видна вследствие различной отражательной способности его элементов. Используется для изучения широкого круга вещественных доказательств: изделий из металлов и сплавов, лакокрасочных покрытий, волокон, документов, следов-отображений и пр.