Б. Я. Пинес. Лекции по структурному анализу : учебное посо-
бие. – Харьков: Изд-во Харьк. Ун-та., 1967. – С. 9-82.
Зайдель А. Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и
практика спектроскопии. Серия Физика и техника спектрального анализа. - М : Наука, 1976. – 373 c.
Малышев В. И. Введение в экспериментальную спектроскопию.
бораториях. Сб. науч.трудов / под ред. Х. Эрхардта. – М. : Металлургия, 1985. – 187 с.
Русакок А. А. Рентгенография металлов. – М. : Атомиздат, 1977.
– 556 с.
Кустанович И. М. Спектральный анализ. – М. : Высшая школа,
1967. – 241 с.
Зевин. Л. С., Завьялов Л. Л. Количественный рентгенографиче-
ский фазовый анализ. – М. : Недра, 1974. - 298 с.
Рентгенотехника. Справочник в 2 – х книгах / В. В. Клюев,
Ф. Р. Соснин, В. Аертс и др. – М. : Машиностроение, 1992. – 364 с.
Павлов П. В., Хохлов А. Ф. Физика твердого тела. – М. Высшая
школа, 1985. – 384 с.
Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы
исследования и контроля. – М. : Техносфера, 2006. – 384 с.
Пентин Ю. А., Вилков Л. В. Физические методы исследования в
химии. – М .: АСТ: Астрель, 2003. – 684с.
Лохин М. А., Швейцер И. Г.Рентгеноспектральный справочник.
– М. : 1982. – 256 с.
Бородкина М. М., Спектор Э. Н. Рентгенографический анализ
текстуры металлов и сплавов. – М. : Металлургия, 1981. – 255 с.
Горелик С. С. и др. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. Практ. рук-во по рентгенографии и электронной микроскопии металлов, полупроводников и диэлектриков. – М. : Металлургия, 1970. – 182 с.
Миркин Я. И. Ренгеноструктурный анализ. Справ. рук-во. получение и измерение рентгенограмм. – М. : Наука, 1976. – 281 с.
Мамиконян С. В. Аппаратура и методы флуоресцентного рентгенорадиометолического анализа. – М. : Атомиздат, 1976. – 301 с.
Биннинг Г., Роррер Г. Сканирующая туннельная микроскопия –
от рождения к юности. Нобелевские лекции по физике. – М. : УФН,
Т. 154, С. 261-267.
Маслова Н. С., Панов В. И. Сканирующая туннельная микрос-
копия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций. – М. : УФН, 1989, – Т. 157. С . 185 – 189.
Бухараев А. А., Овчинников Д. Б., Бухараева А. А. Диагностика
поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии. Заводская лаборатория. Исследование структуры и свойств. Фи-зические методы исследованния и контроля. – М. : Наука, 1996. - С.
10 - 27.
Летохов В. С. Проблемы лазерной спектроскопии. . – М. : УФН,