| 7. Растрлік электрондық микроскопия. Растрлық электронды микроскоп (РЭМ немесе сканерлейтін электронды микроскоп, СЭМ, ағылш. Scanning electron Microscope, SEM) - класс аспабы электронды микроскоп, жоғары (0,4 нанометрге дейін) кеңістіктік рұқсаты бар объектінің үстіңгі бетінің бейнесін, сондай-ақ беткі қабаттардың құрамы, құрылысы және басқа да қасиеттері туралы ақпаратты алуға арналған. Зерттелетін объектімен электрондық шоғырдың өзара әрекеттесу принципіне негізделген.
Қазіргі заманғы РЭМ 3-10 крат (яғни күшті қол линзасының ұлғаюына баламалы) 1 000 000 крат дейін ұлғаюдың кең ауқымында жұмыс істеуге мүмкіндік береді, бұл ең үздік оптикалық микроскоптардың ұлғаюынан шамамен 500 есе артық.
Бүгінгі күні Растрлық электрондық микроскопияның мүмкіндіктері іс жүзінде ғылым мен өнеркәсіптің барлық салаларында, биологиядан материалдар туралы ғылымға дейін қолданылады. Әр түрлі детекторлармен жабдықталған әр түрлі конструкциялар мен РЭМ түрлерінің бірқатар фирмаларының көптеген саны бар.
Достарыңызбен бөлісу: |
