Қазіргі уақытта дислокацияны тікелей бақылайтын тәжірибелік әдістер бар. Мысал ретінде 2.14 а- суретте арнайы тәсілмен алынған платиналы фталоцианиннің жұқа қабықшасының электрондық-микроскопиялық суретінің сұлбалық кескіні, ал 2.14 б-суретте мыс сульфиді кристалының электрондық-микроскопиялық суреті кескінделген. Бұл суреттердегі қара жолақтар атомдық жазықтықтардың орны, платиналы фталоцианинде ол ара қашықтық-, ал мыс сульфидінде - -ге тең. Суреттерде кристалл ішінде үзілген экстражазықтықтар және пайда болған сызықты дислокация жақсы көрініп тұр.