Қазақстан Республикасы Білім және гылым министрлігі Қазақстан Республикасының Ұлттық ядролық орталығы



бет167/307
Дата06.07.2018
өлшемі4,03 Mb.
#48045
1   ...   163   164   165   166   167   168   169   170   ...   307


Дифракциялық тор көмегімен толқын ұзындығын төменгі формуладан анықтауға болады



– дифракциялық тор тұрақтысы белгілі, ауытқу бұрышын өлшей отырып толқын ұзындығын анықтауға болады. Бұдан үлкен болған сайын бұрышының да үлкен болатындығы көрінеді.

Призмада ақ сәуле ортаның сыну көрсеткіші бойынша спекрге ажырайды. Толқын ұзындығы үлкейген сайын кеми береді (2.4.2-сурет).


2.4.2-сурет

Сыну көрсеткіші күлгін сәулелерге қарағанда аз болатын қызыл сәулелер призмада азырақ ауытқиды.



шамасы заттың дисперсиясы делінеді. 2.3.6.2-сурет бойынша толқын ұзындығы азайған сайын ортаның сыну көрсеткіші арта береді. Мұндай дисперсия қалыпты дисперсия делінеді. Толқын ұзындығы азайған сайын ортаның сыну көрсеткіші де кеми бастаса оны аномаль дисперсия дейді. Дифракциялық тордың бұрыштық дифракциясы

. (2.4.2)


Каталог: ebook -> umm
umm -> ПОӘК 042-18-29 8/03-2013 №1 басылым 05. 09. 2013
umm -> Жалпы және заң психологиясы терминдерінің қысқаша сөздігі. І бөлім. Жалпы психология пәнінің терминдері
umm -> 6М 011700- «Қазақ тілі мен әдебиеті мамандығы» Магистранттарға арналған
umm -> ПОӘК 042-14-5-05. 02. 20. 22/2013 № басылым
umm -> 6М 011700- «Қазақ тілі мен әдебиеті мамандығы» Магистранттарға арналған
umm -> «Ежелгі дәуір әдебиеті» пәніне арналған оқу-әдістемелік материалдар 2013 жылғы №3 басылым 5В011700 «Қазақ тілі мен әдебиеті», 5В012100- Қазақ тілінде
umm -> Оқытушы үшін «Қазақстан тарихы»
umm -> Әбікенова Гүлнафис Төкенқызы Қазақ тіліндегі эпистолярлық стильдің лингвистикалық сипаты
umm -> Педагогика кафедрасы


Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   163   164   165   166   167   168   169   170   ...   307




©engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет