үлгі атомдары соқтығысқан кезде туындайтын рентгендік сәулеленуді,
сондай-ақ электрондар үлгі арқылы өткенкездегі энергияның жоғалуын
талдауға болады. Осылай көміртегі мен азот атомдары арасындағы,
сонымен қатар материал құрамын нақты
анықтай отырып, темір мен
никель атомдары арасындағы айырмашылықты байқауға болады.
АЭМ көмегімен өлшемді ғана анықтап қоймай (0,1 нм-ге
дейін), химиялық құрамын, молекулалық байланыс түрін және
үлгінің электрлік өткізгіштігін білуге, яғни үлгі материалы мен оның
компонеттерінің физикалық және химиялық қасиеті туралы толығырақ
ақпарат алуға болады.
АЭМ жаңа материалдарды және
олардың құрылымын зерт-
теуде: “ақылды” жамылғылар, отындық элементтер, магнитті
наноқұрылымдар, жартылай өткізгіш кванттық нүктелер және т.б. кең
қолданылады. Бұл қосымшалар үшін
беттік қабаттарда, шекаралар-
да және құрылымдардың мүмкін болатын ақауларында атомдардың
жағдайын анық білу керек.
СКАНИРЛЕУШІ ЗОНДТЫҚ МИКРОСКОПТАР (СЗМ)
Сканирлеуші зондтық микроскоптар (СЗМ) материалдардың
беткі қабаттарын атомдық деңгейде зерттеу үшін қолданылады. Оның
зерттелетін нысанның беттік қабатының
қасиетін өте аз мөлшерде
өзгергенін жазып және қадағалап отыратын зондтың “өткірленген
инесі бар”. Зонд марсоход сияқты, сол кездегі биіктігін, өткізгіштігін
және
басқа қасиеттерін жазып отырып, үлгі бетін сканирлейді. СЗМ,
граммофонды пластинканың дыбыс жолдарының төбешік болуы мен
шұңқыр болуын қайталап отыратын және солай жазбаны пластинкада
шығаратын метал инесі бар көне граммофон сияқты жұмыс істейді.
Зондтың жоғары және төмен кішкене қозғалысы зондтан шағылып,
оның барлық дірілдерін оптикалық детекторға жеткізетін лазерлік
сәулемен бекітіледі. Сәйкесінше, зондпен
зерттелетін нысанның
беттік қабаты арасындағы потенциалдар айырымы мен электр тоғын
өлшеуге болады. Сканирлеу режімінде зондтың орнын ауыстыру үшін
пъезокристалдар қолданылады.
Достарыңызбен бөлісу: 
