«Төменде өте көп орын бар» 1959 жылдың 29 желтоқсанында физика ғылымы бойынша 1965 жылы «Элементарлы бөлшектер физикасында терең салдары болған кванттық электродинамикадағы фундаментальды жұмыстары»

2.19 - суреттен, массивтi үлгiдегi жеке бөлшектердің бір - бірімен өзара жинақталуының әртүрлі тәсілдерінде қаншалыкты әртүрлі қуыстар түзілетіндігін көруге болады .

Сонымен катар, осы беттердiн тигізетін әсерін айта кеткен жөн .

2.20 - суреттен осы беттердiн тигiзетін әсерi , сорбциялық қабiлеттi өлшеу үшін қолданылатын , атомдар мен молекулалардың пiшiндерiнен тәуелді болатындығын байқай аламыз.

Сондыктан зерттелетін нысандарға ұқсас құрылымдық сипаты бар эталон затының болуы өте маңызды . Меншiктi бетті сорбциялық әдiспен зерттеу кезінде , өлшеулерге материал көлемiмен тұйықталған және сорбциялау үдерісіне катыспайтын кеуек ( макро- , мезо- және микрокеуек ) көлемiнiн әсер етпеуi меншiктi бетті зерттеудегі маңызды мәселе болып табылады . Наноѳлшемдi бөлшектерді тіркеу мен олардың бірегей қасиеттерiн зерттеу мүмкін болғалы бері бүгінгі таңда белгілі аппаратуралар көмегімен жаңа заттар туралы мәліметтер жинақтау және нақты бiр жағдайларда алынган нақты материалдар мен зерттеу жұмыстары жүргізілу үстінде .



2.20-сурет. Сорбцияланатын заттардың бөлшектерінің беті: а- тегіс тығыз; 6 -ірі тесіктері бар шашыраңқы ; в - көлденең ұсақ кеуекті бөлшектер; г- әртүрлі пішіндегі көлденең жактары бар түтікшелі бөлшектер (6)

Наноелшемдi бөлшектерді тіркеу мен олардың бірегей қасиеттерін зерттеу мүмкін болғалы бері бүгiнгi таңда белгілі аппаратуралар көмегімен жаңа заттар туралы мәліметтер жинақтау және нақты бір жағдайларда алынған нақты материалдарды зерттеу жұмыстары жүргiзiлу үстінде . Заттарды зерттеу барысында нақты , дәл мәліметтер алу үшiн бiрнеше әдістер жинағын қолдану керек . Бұл , әсіресе , наноелшемді бөлшектерді зерттеуге қатысты ( 2.21 - сурет ) .

Наноелшемдi материалдардың құрылысы, кұрамы мен қасиеттерін зерттеу үшiн микроскопиялық, рентгенфазалық, рентгенқұрылымдық,с пектроскопиялық, термогравиметриялық анализдер, электрондар дифракциясы, вольтамперметрлік сипаттамаларды анықтау, магниттік қасиеттерді өлшеу және үлгiлердiң беттік аудандарын анықтау әдістері қолданылады .